Gebraucht JEOL JSM 7200F #9376080 zu verkaufen

JEOL JSM 7200F scanning electron microscope (SEM) ist ein vielseitiges Instrument für hochauflösende und hochdurchsatzreiche Bildgebung und Analyse. Es eignet sich für ein breites Anwendungsspektrum, von der Materialwissenschaft über biologische Forschung bis hin zur industriellen Inspektion. Mit einer Kombination aus Elektronenoptik und einem Array von elektronischen Detektoren erzeugt JSM 7200F detaillierte Bilder von Proben im Nanometermaßstab. Seine Feldemissionskanone Elektronenquelle bietet High-Beam-Ströme, auch bei extrem niedrigen Vergrößerungen, so dass eine detaillierte Abbildung von harten und weichen Materialien. JEOL JSM 7200F umfasst auch eine Reihe von automatisierten analytischen Funktionen. Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) und wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie (WDS) liefern chemische Informationen über die Probe, während automatisierte Bildverarbeitungsroutinen (MAPS) präzise dreidimensionale Messungen der Topographie der Probe ergeben. JSM 7200F verfügt über mehrere hochauflösende Abbildungsmodi, darunter SEI und BSE, die für die Oberflächenbildgebung bzw. schwach absorbierte Elemente optimiert sind. Der Backscatter-Detektor (BAD) -Modus erzeugt hochempfindliche Bilder von dicken biologischen Abschnitten, während ein Tomography Scanning ADC (TSADC) -Modus es dem Benutzer ermöglicht, alle Details eines 3D-Objekts in einem einzigen Bild zu erfassen. JEOL JSM 7200F verfügt über eine großzügige 200 mm Bühne, mit einer breiten Palette von Bewegungssteuerung. Sein vollflächiges Neigungssystem und das 6-Achsen-Bewegungssteuerungssystem ermöglichen eine optimierte Bildgebung bei jedem Neigungswinkel. Mit seinem motorisierten Fokus kann JSM 7200F die gesamte Probenoberfläche für eine verbesserte Bildgebung verfolgen. Zu den erweiterten Funktionen von JEOL JSM 7200F gehören ein Beam Blanker zur Unterdrückung von Streustrahlung, ein automatisierter Schmutzsammler zur Reinhaltung der Kammer und ein integriertes Kühlsystem, um die Probentemperaturen stabil zu halten. Die Kombination aus rigorosem Design und Spitzentechnologien von JSM 7200F macht es zu einer ausgezeichneten Wahl für eine breite Palette von Forschungs- und Industrieanwendungen. Seine hervorragenden bildgebenden Fähigkeiten, sein Spektrum an analytischen Werkzeugen und seine intuitive Benutzeroberfläche machen es zu einem idealen Werkzeug für die Untersuchung von Nanowissenschaften und anderen Materialien, sowohl hart als auch weich.