Gebraucht JEOL JSM 7400F #188813 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 188813
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
OXFORD INCA EDS / EDX
Includes:
(2) Work desks
(1) Motor control box
(1) Dell CPU
(1) JEOL controller
(1) HEWLETT PACKARD Monitor
(1) COMPAQ Keyboard
(1) COMPAQ CPU
(1) JEOL Rotary Pump
(1) JEOL Model SMD-58040 Refrigerated Circulating System
Currently de-installed
Currently crated.
JEOL JSM 7400F ist ein Feldemissionsrasterelektronenmikroskop, das sowohl für ultrahochauflösende bildgebende als auch für fortgeschrittene nanoskalige analytische Anwendungen entwickelt wurde. JSM 7400F ermöglicht die Bildgebung und Analyse von Proben mit Auflösungen bis zu 1 nm auf der Oberfläche komplexer Strukturen. Die Feldemissionsquelle an diesem Mikroskop ermöglicht eine hervorragende Bildqualität und erhöht die erreichbare Stromdichte. Das verbesserte Kathodenstromversorgungssystem ermöglicht den gleichzeitigen Betrieb mehrerer Emissionsquellen, was zu einer erhöhten Gesamtleistung beiträgt. Das Mikroskop bietet auch einen großen Satz von Sekundärpistolen und Detektoren, die hochselektive Ansätze für die Bildgebung und Analyse ermöglichen. Dazu gehören ein In-Column Dual-Axis Energy Filter und ein In-Lens Single-Axis Low-Vacuum Energy Filter (LVEF). JEOL JSM 7400F bietet auch eine große Reihe von zusätzlichen Funktionen für erweiterte Analyse. Die Hochleistungs-EDX-Spektrometer (Energy-Dispersive X-ray) und WDX-Spektrometer (Wavelength-Dispersive X-ray) ermöglichen die Erfassung qualitativer und quantitativer Elementaranalysen. Darüber hinaus verfügt JSM 7400F über ein Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometer (ToF-SIMS), das zur Analyse von Adatom- und Oberflächenstrukturmerkmalen sowie zur Durchführung von Tiefenprofilen der Probe verwendet wird. JEOL JSM 7400F bietet eine vielseitige Reihe von Software-Funktionen. Shimadzu EPMA Viewer-Software kann verwendet werden, um Röntgenbilder und FST-Mapping zu messen, um sich auf bestimmte Energiebereiche zu konzentrieren. Darüber hinaus kann die EPMA-fähige Auto-Scan-Software optional zur Automatisierung des Bildgebungs- und Analyseprozesses mit zusätzlichen Simulationen eingesetzt werden. Alles in allem ist JSM 7400F ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop mit hochauflösender Bildgebung, fortschrittlichen nanoskaligen Analysefunktionen und einer Vielzahl zusätzlicher Funktionen, was es zu einer guten Wahl für Benutzer macht, die nach einem vielseitigen und leistungsstarken SEM suchen.
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