Gebraucht JEOL JSM 7400F #9244470 zu verkaufen

JEOL JSM 7400F ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM) der nächsten Generation zur Bildgebung und Analyse in einer Vielzahl von Materialwissenschaften. Es hat ein sehr zuverlässiges und vielseitiges Design, mit einer Reihe von erweiterten Funktionen. Kern von JSM 7400F ist die Elektronenstrahlsäule, die mit einer Schottky-Feldemissionskanone (FEG) einen hochstabilen Elektronenstrahl erzeugt. Die Säule wird von zwei unabhängigen Abtastspulen angesteuert, die eine Feinsteuerung der Elektronenstrahlposition und Konvergenz ermöglichen. Die Säule hat auch eine eingebaute Hochspannungsquelle, die verwendet werden kann, um verschiedene Abbildungsmodi zu erzeugen, einschließlich Sekundärelektronen (SE) und rückgestreute Elektronen (BSE), die verwendet werden können, um Kontrast auf dem Bildschirm zu erzeugen. Dies wird durch die über Proben verfügbare Auflösung des Mikroniveaus weiter verbessert. Das Steuermodul von JEOL JSM 7400F verfügt über eine leistungsstarke Software zur einfachen Steuerung und Automatisierung der Probenpositionierung und Parametereinstellung. Seine interaktive grafische Benutzeroberfläche macht es einfach, spezielle bildgebende Aufgaben zu konfigurieren, mit einem bequemen Touchpad, das zur Steuerung der Verwendung mehrerer bildgebender und Analysepakete auf dem Instrument verwendet wird. Einige dieser Pakete umfassen die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX), die Röntgenabbildung und die Elektronen-Backscatter-Beugung (EBSD). Das 7400F verfügt außerdem über automatisierte Kalibrierfunktionen, die eine präzise Probenzentrierung und Scangenauigkeit gewährleisten. Eines der Hauptmerkmale von JSM 7400F ist seine Effizienz aufgrund der hocheffizienten Filter- und Kühlfunktionen, die den Energieverbrauch reduzieren. Darüber hinaus ist es mit luftbelüfteten LEDs und einem geschlossenen elektrischen Erdungssystem ausgestattet, das für einen sehr geringen Geräuschpegel sorgt. Zu den Sicherheitsmerkmalen des Instruments gehören eine Nothaltetaste und Lasersicherheitsverriegelungen, die bei Betriebsunterbrechung eine sofortige Sicherheitsabschaltung ermöglichen. JEOL JSM 7400F ist ein ideales Instrument für eine Vielzahl von Anwendungen, von der materialwissenschaftlichen Forschung bis zur industriellen Fehleranalyse. Die Kombination aus fortschrittlichen Funktionen, ergonomischem Design und hoher Leistung bietet Forschern und Technikern ein zuverlässiges, leistungsstarkes Bildgebungs- und Analysewerkzeug.