Gebraucht JEOL JSM 7400F #9248819 zu verkaufen

JEOL JSM 7400F ist ein Rasterelektronenmikroskop, das überlegene Bildqualität, höhere Leistung und eine Reihe benutzerfreundlicher Funktionen bietet. Diese Ausrüstung ist ideal für Forschungslabore, die detaillierte Beobachtungen von Proben im Nanometermaßstab vornehmen möchten. Die Kernkomponenten von JSM 7400F sind ein hochauflösendes, rauscharmes variables Kondensatorlinsensystem, mit dem Benutzer bei Vergrößerungen bis zu 50,000X auf Zielproben zoomen können, und ein hochempfindlicher Sekundärelektronendetektor, der die durch das Probenmaterial beschleunigten Signale detektieren kann. Dieses Gerät ist auch mit einer Vielzahl fortgeschrittener Funktionen ausgestattet, wie einem Vollfarbelektronenstrahlgenerator, der bis zu drei Strahlen gleichzeitig erzeugen kann, und einer Dynamikfokus-Steuerfunktion, die den Fokus während einer Probenuntersuchung ständig anpasst, um die Auflösung zu verbessern. In Bezug auf die Probenvorbereitung verfügt JEOL JSM 7400F über eine automatisierte Probenaustauschmaschine, die ein schnelles und genaues Be- und Entladen von Proben ermöglicht. Der Probenhalter dieses Werkzeugs ist auch mit SEM- und FIB-Stummeln kompatibel, die die Probe für eine optimale Bildgebung präzise positionieren und kippen können. JSM 7400F ist auch mit erweiterten Bildgebungsfunktionen ausgestattet, einschließlich einer COLD-Feldemissionspistole und einer internen drehbaren Bühne. Diese Funktionen ermöglichen es Benutzern, eine Vielzahl von Bildern aus derselben Probe zu erfassen, einschließlich Live-Action-Bilder, Bilder, die mit polarisiertem Licht gebildet werden, und Bilder von kleinen eingebetteten Objekten. Das Asset unterstützt auch automatisierte Bildnähte, um hochauflösende Panoramabilder zu erhalten. Darüber hinaus wurde JEOL JSM 7400F entwickelt, um den Austausch von Bildern zwischen mehreren Benutzern zu erleichtern. Das Modell führt die Bildverarbeitung in einem kompatiblen PC durch und kann ausgewählte Bilder sofort über ein Netzwerk übertragen. Dies ermöglicht die Zusammenarbeit zwischen Forschern in Echtzeit. JSM 7400F ist eine effektive und hochentwickelte Rasterelektronenmikroskopausrüstung, die sich perfekt für Forschungslabore eignet, die eine präzise Bildgebung auf Nanometerskalen benötigen. Seine hervorragende Leistung, benutzerfreundliche Funktionen und fortschrittliche Bildgebungstechnologie machen es zu einem wertvollen Kapital für jedes Labor.