Gebraucht JEOL JSM 7400F #9272205 zu verkaufen

JEOL JSM 7400F ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das häufig in einer Vielzahl von Anwendungen verwendet wird, darunter Materialien und Oberflächenwissenschaften. Es bietet überlegene Funktionalität und Benutzerfreundlichkeit mit einer breiten Palette von Funktionen wie hochauflösende Bildgebung, elementare Mikroanalyse und 3D-topographische Rekonstruktionen. Im Zentrum von JSM 7400F steht eine elektromagnetisch senkrechte Feldlinsenausrüstung, die sowohl eine hochauflösende Bildgebung bis zu einer seitlichen Auflösung von 0,5 nm als auch eine verbesserte Tiefenschärfefähigkeit ermöglicht. Dieses System arbeitet mit einem hochauflösenden Sekundärelektronendetektor zur optimalen Abbildung von Proben zusammen. Gekoppelt an die Linseneinheit ist eine vielseitige Röntgenmikroanalyse-Maschine. Dieses Tool ermöglicht es Benutzern, zerstörungsfreie Elementaranalysen von Proben über eine Vielzahl von Energien von Beryllium bis Uran (B-U) durchzuführen. JEOL JSM 7400F verwendet weiterhin eine Umweltfeld-Emissionskanone mit hoher Stromdichte und überlegener Stabilität, die unberührte Bilderzeugungselektronen liefert. Dieses Gewehr eignet sich hervorragend für die Bildgebung mit hohem Kontrast und eignet sich daher ideal für die Bildgebung und Analyse von Proben wie Isoliermaterialien. Darüber hinaus verfügt das Gerät über eine Reihe von Zubehör wie eine breite Palette von Vakuumdruckoptionen, mehrere Objektive, sowie eine Reihe von zusätzlichen Detektoren für EDX, WDX, BSD und andere Analysen. Schließlich nutzt JSM 7400F die 3D-Bildgebungstechnologie für die topographische Abbildung von Proben. Diese Technologie ermöglicht es Benutzern, 3D-Rekonstruktionen aus 2D-Bildern zu erstellen, die ein genaues Verständnis der Oberflächengeometrie und Morphologien ermöglichen. Die 3D-Bilderzeugungsanlage kann mit hochauflösendem Elektropolieren für die Probenvorbereitung kombiniert werden, um hochauflösende Bilder mit überlegenen Oberflächendetails zu erhalten. Abschließend ist JEOL JSM 7400F ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop für die Probenanalyse und Bildgebung. Es verfügt über eine Reihe von Funktionen wie hochauflösende Bildgebung, elementare Mikroanalyse und 3D-topographische Rekonstruktionen für die detaillierte Analyse von Materialien und Oberflächen. Durch seine fortschrittlichen Funktionen und sein vielseitiges Design ist JSM 7400F ein ausgezeichnetes Werkzeug für die Forschung in einer Vielzahl von Bereichen.