Gebraucht JEOL JSM 7400F #9384379 zu verkaufen

JEOL JSM 7400F ist ein Feldemissionsrasterelektronenmikroskop (FESEM), das für eine Reihe von Anwendungen in der Materialwissenschaft und biologischen Forschung entwickelt wurde. JSM 7400F ist ein fortschrittliches FESEM mit einem integrierten Ultra High Vacuum (UHV) -Gerät und einem hochauflösenden, energiedispersiven Röntgendetektor zur präzisen Elementaranalyse. Die Elektronenquelle des Mikroskops ist eine Lanthanhexaborid-Feldemissionskanone (FEG), die eine hochauflösende Bildgebung ermöglicht und die Betriebskosten senkt. Die FEG wird von einem aktiven variablen Elektronenkanonen-Steuerungssystem (VEGC) angetrieben, das die Spannung, den Strom und die Geschützwinkelsteuerung genau regelt, um eine optimale Leistung zu erzielen. Die leistungsstarken, hochauflösenden elektrostatischen Linsen sind mit variablen Kondensatoröffnungen und Feldblenden zur präzisen Bildsteuerung ausgestattet. JEOL JSM 7400F ist für ein extrem hohes Signal-Rausch-Verhältnis konzipiert und bietet beispiellose Bildgebungsgeschwindigkeit und -empfindlichkeit. Es bietet auch eine eingebaute Niedervakuum-Betriebsart, die die Integration mit elektrisch und mechanisch empfindlichen Proben ermöglicht. Ein Energiefilter bietet eine Auflösung von 0,9 eV, während die In-Column-Probenkammer eine breite Palette von Proben aufnimmt, von den kleinsten bis zu den schwersten Materialien, einschließlich biologischer Proben. Das Mikroskop ist ein präzises Analysegerät, das mit den fortschrittlichen Röntgendetektoren präzise und zuverlässige Messungen liefert. Die energiedispersive Spektroskopie (EDS) ermöglicht die Identifizierung der chemischen Zusammensetzung von Proben. Die integrierte WDS-Maschine (Wellenlängen-Dispersionsspektroskopie) verbessert die elementaren Kartierungsmöglichkeiten mit hoher Empfindlichkeit und ausgezeichneter Präzision. JSM 7400F ist in der Lage, in einem Bereich von Temperaturen von Raumtemperatur (20 ° C) bis 300 ° C zu arbeiten. Es verfügt über konventionelle und In-Linsen-Detektoren, und die große Probenkammer ermöglicht die gleichzeitige Abbildung mit mehreren Detektoren. Das benutzerfreundliche Design von JEOL JSM 7400F umfasst auch eine gut organisierte Benutzeroberfläche und Navigationskonsole, die eine einfache Bedienung und präzise Steuerung ermöglicht. JSM 7400F ist ein fortschrittliches, leistungsstarkes Feldemissionsrasterelektronenmikroskop, das für die vielseitige Analyse und Bildgebung einer Reihe von Materialien und biologischen Proben entwickelt wurde. Es bietet eine ausgezeichnete bildgebende Auflösung, eine breite Probenkammer und zuverlässige, genaue Tests mit seinen fortschrittlichen FEG- und Röntgendetektoren. Die komfortable Benutzeroberfläche und die Präzisionsanalysefähigkeiten von JEOL JSM 7400F es zu einer zuverlässigen und hochmodernen Wahl für die heutige wissenschaftliche Forschung machen.