Gebraucht JEOL JSM 7500F #293623399 zu verkaufen

JEOL JSM 7500F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das erweiterte analytische Fähigkeiten und bildgebende Leistung bietet. JEOL JSM-7500F verfügt über einen flexiblen Vergrößerungsbereich von 5x bis 300.000x, der eine präzise Abbildung der feinsten Details ermöglicht. Das hochstabile und zuverlässige Säulendesign von JSM 7500F sorgt für präzise Bilder mit überlegener Auflösung. JSM-7500F verwendet eine Reihe fortschrittlicher Bildgebungstechniken für die detaillierte Analyse. Dazu gehören konventionelle Sekundärelektronen (SE) -Bildgebung, rückgestreute Elektronen (BSE) -Bildgebung, Röntgenmikroanalyse und Kathodolumineszenz (CL) -Bildgebung. Durch die Kombination der verschiedenen Abbildungsmodi ist es möglich, die Zusammensetzung, Dicke und andere Eigenschaften von Proben zu beobachten. JEOL JSM 7500F ist mit einer Vakuumkammer ausgestattet, die für die Aufrechterhaltung einer Hochvakuumumumgebung während des Betriebs ausgelegt ist. Dies hilft, thermische Schäden an empfindlichen Proben zu verhindern und bewahrt die organische Integrität der Probe. Darüber hinaus verfügt das SEM über ein schwingungsarmes Design, um das Risiko von Probendrift zu reduzieren und die Bildqualität zu verbessern. Das Mikroskop wird über eine intuitive Benutzeroberfläche bedient, so dass Benutzer einfach durch die Funktionen und Einstellungen navigieren können. Die Software ist in der Lage, automatischen Betrieb und kann große Chargen von Bildern ausführen, während Feedback in Form von Bildern und Statistiken. Für fortgeschrittene Anwender ist das Mikroskop auch mit verschiedenen anderen Werkzeugen und Zubehör wie Bildverarbeitungs-Software-Paketen kompatibel. JEOL JSM-7500F bietet hervorragende Bildaufnahmefähigkeiten mit Optionen für Hochgeschwindigkeitsbilder zur Erfassung schneller Änderungen in Proben. Darüber hinaus unterstützt JSM 7500F eine Vielzahl fortschrittlicher Automatisierungsfunktionen wie autonome Bedienung, Beispielaustausch und automatische Fokussierung. Dadurch ist das Gerät für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet und ermöglicht eine schnelle Probenbearbeitung. Kurz gesagt, JSM-7500F ist ein flexibles und zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop, das hervorragende bildgebende und analytische Fähigkeiten bietet. Mit seiner intuitiven Benutzeroberfläche, leistungsstarken Automatisierungsfunktionen und fortschrittlichen Bildgebungstechniken ist JEOL JSM 7500F ein leistungsfähiges Forschungstool für alle, die eine detaillierte Analyse von Proben suchen.