Gebraucht JEOL JSM 7500F #293641220 zu verkaufen

JEOL JSM 7500F
ID: 293641220
Scanning Electron Microscope (SEM) EDS.
JEOL JSM 7500F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur fortgeschrittenen Bildgebung und Analyse von Oberflächen- und Probenmerkmalen verwendet wird. Dieses SEM ist mit einer Reihe fortschrittlicher Bildgebungs- und Analysefunktionen ausgestattet, einschließlich Stufenprobenabtastung für detaillierte Oberflächenbetrachtung, Mehrstrahl-Elektronensäule für die gleichzeitige Abbildung mehrerer Bereiche und die Fähigkeit, eine breite Palette von Materialien von Metallen und Halbleitern bis zu organischen Verbindungen zu analysieren. JEOL JSM-7500F ist mit einer Elektronsäule hoch empfindlich, die eine maximale Beschleunigungsstromspannung von 30 kV und eine Hochleistungsdatenerfassungsausrüstung anbietet. Das System bietet maximal bis zu 60 Bilder pro Sekunde und eine Bildgröße von bis zu 2000 x 2000 Pixel. Es hat auch eine Hochleistungsröntgenstrahleinheit der kartografisch darstellenden für die genaue Bildaufbereitung von Materialien. Zusätzlich ist die Maschine mit einer hochpräzisen computergesteuerten Probenstufe für eine genaue Probenposition ausgestattet. JSM 7500F verfügt auch über erweiterte analytische Fähigkeiten einschließlich EDS/EDX-Spektroskopie, die eine simultane spektroskopische Analyse einer Probe mit hochauflösender elementarer Abbildung ermöglicht. Es ermöglicht auch die energiedispersive Röntgenaufnahme mit einem Elektronenstrahl, um Bilder basierend auf der Röntgenintensität zu erfassen. Darüber hinaus bietet JSM-7500F einen hohen Automatisierungsgrad mit Bildverarbeitungs- und Analysefunktionen, die eine Manipulation und Interpretation der erfassten Daten ermöglichen. Es ist auch mit EBSD-Messfähigkeiten ausgestattet, die die automatische Abbildung von kristallinen Strukturen und Korngrenzen ermöglichen. Abschließend ist das JEOL JSM 7500F Rasterelektronenmikroskop ein leistungsfähiges und zuverlässiges Werkzeug zur Oberflächenbildgebung und Analyse von Materialien. Mit seinen leistungsstarken bildgebenden und vielseitigen Analysefähigkeiten ist es ideal für Labore oder Forschungseinrichtungen, die Materialien unterschiedlicher Komplexität analysieren möchten.
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