Gebraucht JEOL JSM 7500F #293643351 zu verkaufen

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ID: 293643351
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 7500F ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur Untersuchung der Strukturen und Oberflächen von Materialien. Diese Art von Mikroskop arbeitet, indem ein fokussierter Elektronenstrahl auf ein Probenmaterial emittiert und dann die Elektronensignale gesammelt werden, die von der Probe zurückgesprungen werden. Das Mikroskop dient dazu, die Zusammensetzung und Struktur eines Materials mit hoher Präzision zu beobachten. JEOL JSM-7500F ist mit vier verschiedenen elektronenoptischen Linsen ausgestattet und kann hochauflösend abgebildet werden. Es ist eines der auflösungsstärksten SEMs auf dem Markt und erreicht bei 15kV eine Auflösung von 1,3 nm. Das Gerät verfügt außerdem über eine große Auswahl an Detektoren für verschiedene Anwendungen, darunter sekundäre und rückgestreute Elektronendetektoren, einen EDX-Detektor für die Elementaranalyse, einen Kathodolumineszenzdetektor (CL) und einen präzisen Hochbeschleunigungsspannungsdetektor. Das Mikroskop ist mit einer automatischen Hochgeschwindigkeitsstufe ausgestattet, die es dem Probenhalter ermöglicht, sich in drei Achsen zu bewegen und zu drehen. Es verfügt auch über ein patentiertes Auto-Fokus-System „Smart Eye“, das den Fokussierungsprozess automatisiert, was zu einer schnelleren Bildgebung und genaueren Ergebnissen führt. Darüber hinaus ist das Mikroskop in der Lage, Proben im Niedervakuumbetrieb abzubilden, was das Auftreten von Ladeeffekten reduziert und eine hochauflösende Bildgebung ohne zeitraubende Probenbeschichtung ermöglicht. Darüber hinaus ist das Mikroskop mit einem Auto Area Acquisition Feature ausgestattet, das automatisch eine breite Fläche einer Probe erfasst, um interessierende Bereiche für eine gezielte Bildgebung zu identifizieren. Die gesammelten Bilder können mit der Software-Suite an Bord manipuliert werden, was eine einfache Analyse, Vorbereitung von vergleichenden Bildsequenzen und die Integration mehrerer Bilddatensätze ermöglicht. Das System ist auch für einfache Bedienung konzipiert, mit einem Touchscreen-Steuergerät und einer großen Auswahl an voreingestellten Operationen, die vom Benutzer schnell zugegriffen und ausgeführt werden können. JSM 7500F ist ein ideales Werkzeug, um Materialien sowohl in der Forschung als auch in industriellen Anwendungen zu studieren.
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