Gebraucht JEOL JSM 7500F #9356461 zu verkaufen

JEOL JSM 7500F ist ein automatisches Rasterelektronenmikroskop (ASEM), das durch Abtastung und Detektion von Elektronenstrahlen, die aus einem Wolframfilament erzeugt werden, sehr detaillierte Bilder von biologischen und nichtbiologischen Proben erzeugt. Es ist für Hochleistungs-Bildgebung in mehreren Bereichen konzipiert, einschließlich Materialwissenschaft, Nanotechnologie, medizinische Wissenschaft und industrielle Messtechnik. JEOL JSM-7500F verwendet eine Reihe fortschrittlicher Technologien wie eine Feldemissionskanone (FEG), eine digitale Signalverarbeitung (DSP) und eine Energiefilteranwendung (EFTEM) für die hochauflösende Bildgebung. Es basiert auf einer patentierten Technologie namens aberration-corrected aberration-compensated (ACAC) -Technologie, bei der die durch die Objektivlinse des Elektronenmikroskops verursachte Aberration durch Anwendung des ACAC-Systems korrigiert wird. Dies führt zu einer deutlich verbesserten Auflösung von Beispielbildern. JSM 7500F ist mit der fortschrittlichen Software Digital Imaging and Analysis Open Platform (DIOP) ausgestattet, die es Anwendern ermöglicht, hochauflösende Bilder von Proben effizient zu erfassen und zu analysieren. Anwender haben Zugriff auf eine Reihe von Abbildungsmodi, wie SE (Sekundärelektron), EDX (energiedispersive Röntgenstrahlung), EBIC (Elektronenstrahl induzierter Strom) und EFTEM (Energiefilterende Transmissionselektronenmikroskopie), sowie eine Reihe von digitalen Bildverarbeitungsfunktionen. JSM-7500F ist ein sehr langlebiges Instrument, das zuverlässig und einfach zu bedienen ist. Es verfügt über einen gebogenen PC und kippbare Feldemissionskanone (FEG) für einfachen Zugang zur Probe. Es verfügt auch über automatisierte Ausrichtungs-, Scan- und Fokussierungsfunktionen, die es Anwendern erleichtern, genaue Ergebnisse zu erhalten. JEOL JSM 7500F ist ideal für Anwender, die ein vielseitiges, leistungsstarkes und hochauflösendes Bildgebungssystem suchen. Seine mehrfachen Bildverarbeitungsmodi, seine hohe Auflösung und seine robusten Bildanalysefunktionen machen es für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet. Es ist in der Lage, Bilder zu produzieren, die sowohl klar als auch detailliert sind und eine tiefere Inspektion von Proben ermöglichen. Abschließend ist JEOL JSM-7500F ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop, das für den Einsatz in verschiedenen Bereichen entwickelt wurde. Seine fortschrittliche Technologie ermöglicht eine genaue und detaillierte Bildgebung, und seine automatisierten Funktionen machen es einfach zu bedienen. Es eignet sich für viele Arten von Forschungsanwendungen, von der Materialwissenschaft bis zur medizinischen Bildgebung.