Gebraucht JEOL JSM 7600F #293653209 zu verkaufen

JEOL JSM 7600F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für maximale Leistung. Es enthält viele erweiterte Funktionen und Anwendungen, so dass es für eine breite Palette von Beispielanalysen verwendet werden kann. Das Mikroskop ist sehr vielseitig einsetzbar und kann sowohl im Vakuum- als auch im Umgebungsmodus eingesetzt werden. JSM 7600F nutzt die neueste Elektronenoptik-Technologie und bietet hervorragende Auflösung und Kontrast. Das elektronenoptische Design von JEOL JSM 7600F basiert auf einem abgetasteten Gesichtsfeld. Dieses Scan-Muster wird verwendet, um dem Mikroskop zu ermöglichen, Bilder in verschiedenen Brennweiten und Winkeln zu erfassen, was zu detaillierteren, hochgenauen Bildern führt. Das Scan-Muster ermöglicht es dem Mikroskop auch, digitale Bilder mit verbessertem Kontrast, Auflösung und Geschwindigkeit zu erzeugen. JSM 7600F enthält auch ein leistungsstarkes energiedispersives Röntgenspektrometer (EDX) für die Probenanalyse. Das EDX-Spektrometer ermöglicht es dem Mikroskop, den Unterschied in den Energieniveaus zwischen Elementen zu erfassen und zu messen. Anhand dieser Messwerte können dann die in einer Probe vorhandenen Elemente genau identifiziert werden. Zusätzlich ermöglicht das EDX-Spektrometer dem Anwender, die Konzentration von Elementen in verschiedenen Bereichen einer Probe zu messen und zu vergleichen. Darüber hinaus verwendet JEOL JSM 7600F fortschrittliche Software für die Bildverarbeitung und -analyse. Diese Software gibt dem Benutzer die Möglichkeit, Bilder einfach zu manipulieren und zu analysieren, 3D-Bilder zu erzeugen und Datensätze aus einer großen Anzahl von Bildern zu erstellen. Die Software verfügt auch über automatisierte Funktionen wie automatische Fokussierung, automatisches Sichtfeld und automatisierte Drift-Korrekturen. JSM 7600F ist ein extrem leistungsfähiges, multifunktionales Instrument, das sich ideal für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen eignet. Die Kombination aus fortschrittlicher Elektronenoptik, EDX-Spektrometer und Software macht es zu einem vielseitigen und zuverlässigen Werkzeug für die Probenanalyse. JEOL JSM 7600F ist ein wesentliches Instrument für jedes Labor, das Materialien studiert oder Experimente durchführt.