Gebraucht JEOL JSM 7600F #293660103 zu verkaufen

JEOL JSM 7600F ist ein hochentwickeltes Rasterelektronenmikroskop, das entwickelt wurde, um überlegene Leistung, Betrieb und Zuverlässigkeit zu bieten. Dieses Rasterelektronenmikroskop ist in der Lage, eine Vielzahl von Aufgaben von der Bildgebung bis zur Phasenanalyse mit einer Auflösung von bis zu 0,2 nm durchzuführen. JSM 7600F ist mit einer Hochleistungselektronenoptik ausgestattet, die eine Betriebsspannung von 0.5-30kV und einen Strahlstrom von bis zu 0.5nA liefert. Dies ermöglicht eine maximale Bildauflösung und eine optimierte Fokusregelung. Es verfügt auch über ein neues digitales Signalverarbeitungsmodul, das es dem Benutzer ermöglicht, hochwertige Bilder mit hervorragendem Kontrast zu erfassen. Das Gerät ist auch mit einem breiten Sichtfeld ausgestattet, so dass größere Bilder mit höchstem Detail. Der integrierte Energiefilter ermöglicht den Anwendern präzise spektroskopische Bilder und Röntgenaufnahmen. So können Anwender komplexere Analysefunktionen wie topographische und chemische Zuordnungen durchführen. Das Gerät verfügt auch über einen speziellen Probenhalter, der eine stabile Plattform für alle verschiedenen Probentypen bietet. Dies ermöglicht eine größere Beispielflexibilität, ohne das Leistungsniveau zu beeinträchtigen. Der Halter verfügt außerdem über ein dreiachsiges Stufenpositioniersystem, das einen maximalen Bewegungsbereich für grobe und feinabgestellte Einstellungen bietet. Weitere Funktionen sind digitale Bilderfassung, mehrere Probenhalter und eine erweiterte Informationsüberlagerungseinheit. Die digitale Bildaufnahme bietet Benutzern qualitativ hochwertige Bildergebnisse, und die Mehrfachhalter unterstützen 19mm, 37mm und 75mm Stiftstummel. Die erweiterte Informationsüberlagerungsmaschine ermöglicht es Benutzern, Beispielfunktionen besser zu beobachten; Dieses Tool unterstützt auch eine Vielzahl von Umgebungsbedingungen wie thermische, elektrische und magnetische Felder. Insgesamt ist JEOL JSM 7600F ein leistungsfähiges und zuverlässiges Werkzeug, das es Anwendern ermöglicht, eine Vielzahl von Bildgebungs- und Analyseaufgaben mit Genauigkeit und Präzision durchzuführen. Dieses Rasterelektronenmikroskop bietet eine ausgezeichnete Bildauflösung und kann eine Vielzahl von Probentypen und Umgebungen aufnehmen. Es ist ein zuverlässiges und leistungsfähiges Werkzeug, das auf die Bedürfnisse der Anwender zugeschnitten ist, die eine zuverlässige und präzise Analyse suchen.