Gebraucht JEOL JSM 7600F #293661547 zu verkaufen

JEOL JSM 7600F ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von Anwendungen einschließlich analytischer und Forschungsanwendungen entwickelt wurde. Es hat ein fortschrittliches Design und bietet eine breite Palette von Funktionen, um auch die anspruchsvollsten Anforderungen zu erfüllen. Herzstück von JSM 7600F ist das ultrahoch beschleunigende Spannungspotential, das maximal bis zu 30 kV für den Betrieb bereitstellen kann. Diese hohe Beschleunigungsspannung ist wesentlich, um die hohen Auflösungs- und Kontrastwerte zu erhalten, die für hochauflösende bildgebende und analytische Fähigkeiten erforderlich sind. Das Mikroskop verfügt zudem über ein integriertes Design mit einer Hochleistungs-Feldemissionskanone (FEG) und einem Abbildungssystem mit mehreren Detektionswegen einschließlich Sekundärelektron (SE) und Rückstreuelektron (BSE). Dieses Design ermöglicht die Erfassung eines breiten Spektrums topographischer und kompositorischer Strukturinformationen. Darüber hinaus ist JEOL JSM 7600F mit einem fortschrittlichen Scansystem ausgestattet, das Bilder mit einer seitlichen Auflösung von bis zu 2,5 nm erzeugen kann. Diese unglaublich hochauflösende bildgebende Fähigkeit ist einer der Hauptvorteile des Mikroskops und in Forschungsanwendungen wie in Studien an nieder- bis mittelmolekularen Proben wie Proteinen, Viren und Bakterien von großem Nutzen. Das Mikroskop ist auch in der Lage, Bilder mit hohem Kontrast auch bei hohen Vergrößerungen zu erzeugen, so dass es ideal für die Abbildung von sehr feinen Strukturen. Dieses Mikroskop verfügt auch über eine Reihe weiterer Funktionen wie eine digitale Bühne, motorisierte Fokussierung und automatisierte Quellenausrichtungsfunktionen. JSM 7600F ist auch mit automatisierten digitalen Steuerungen ausgestattet, die es Anwendern ermöglichen, das Mikroskop optimal an ihre Anwendungen anzupassen. Diese digitalen Steuerelemente umfassen Hochgeschwindigkeitssteuerungen für Scannen und Analyse sowie mehrere Bildverarbeitungsfunktionen. Zum Mikroskop gehört auch ein automatisiertes Strahlverzögerungssystem, das die Probe vor Beschädigungen durch den Elektronenstrahl schützt. Insgesamt ist JEOL JSM 7600F ein fortschrittliches und zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop, mit dem verschiedene Probentypen untersucht und analysiert werden können. Es bietet Benutzern eine breite Palette von Funktionen und Funktionen, so dass sie die höchsten Auflösungs- und Kontraststufen in ihrer Bildgebung und Analyse erhalten.