Gebraucht JEOL JSM 7600F #9037223 zu verkaufen

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ID: 9037223
Weinlese: 2012
Scanning electron microscope (SEM) Field emissions Complete set includes: Edax imaging system (Ametek) Type: Genesis Apex2 XL60 Probes Detectors HP workstation Vacuum system Closed loop water re-circulator Low noise current pre-amplifier (Stamford Research) Mod SR-570 Generation five PSU controller Assoc. equipment 2012 vintage.
JEOL JSM 7600F ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur Abbildung und Analyse der Morphologie einer Vielzahl von Materialien von biologischen bis anorganischen Proben verwendet wird. Die von der 7600F erzeugten Bilder und Daten bieten eine sehr hohe Auflösung und liefern wertvolle Informationen für Forscher, Nanotechnologen und Materialdesigner. Das 7600F ist ein SEM mit Feldemission, mit einem Berylium-optischen System, das eine ultrahohe Auflösung von bis zu 0,2 nm mit Hilfe von Auto-Fokus-Elektronik bietet, die hilft, den Fokus automatisch auf den Zielbereich anzupassen. Das System enthält einen Oxford INCA Energy™ Dispersive X-Ray (EDX) Detektor, der es dem Benutzer ermöglicht, von der Probe emittierte Röntgenstrahlung zu detektieren, um die Elementzusammensetzung zu identifizieren. Es bietet eine hochauflösende Abbildung auch der kleinsten Merkmale auf der Probe. Darüber hinaus verfügt JSM 7600F auch über eine hohe Gleichzeitigkeit und schnelle Verarbeitungsfunktionen, die es ermöglichen, große Daten in kurzer Zeit abzubilden und zu verarbeiten. Die Bordsoftware ermöglicht eine maximale Benutzerkontrolle über SEM- und EDX-Bedingungen für die Probenvorbereitung, Vergrößerungs- und Kontrasteinstellungen usw. Das Gerät verfügt über eine starre und robuste Maschinenplattform, die für den Dauerbetrieb gebaut ist und die Lebensdauer des Gerätes erhöht. Das 7600F eignet sich für eine Reihe von Anwendungen, von der Halbleiteranalyse bis zum Nanoplotting, für eine Vielzahl von Proben, darunter Leiterplatten, Metalllegierungen, Kristallstrukturen und organische Verbindungen. Das einfallsreiche Gerät ist auch in der Lage, automatisierte Standortuntersuchungen und -analysen, Fehleranalysen und Tomographien durchzuführen. JEOL JSM 7600F kombiniert Präzision, Strenge und hohe Auflösung, um Forschern und Materialdesignern leistungsstarke Bildgebungs- und Analysewerkzeuge zu bieten. Mit den fortschrittlichen Funktionen und Fähigkeiten ist das Gerät für eine Reihe von Anwendungen gut geeignet, was es zu einem unschätzbaren Vorteil für Forschungslabore und Ingenieurbranchen gleichermaßen macht.
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