Gebraucht JEOL JSM 7600F #9285263 zu verkaufen

JEOL JSM 7600F ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), mit dem detaillierte Strukturen und Oberflächen in hoher Auflösung erfasst werden können. Es ist mit einer Feldemissionskanone (FEG) -Elektronenquelle ausgestattet, die es ermöglicht, mit größeren Beschleunigungsspannungen, höheren Stromdichten und größerer Schärfentiefe als die meisten anderen SEMs zu arbeiten. Das Mikroskop ist für den Betrieb im Ultrahochvakuum (UHV) konzipiert und eignet sich daher ideal für die Abbildung von dielektrischen und organischen Proben. Das Mikroskop ist mit einem WDS-Gerät (Wellenlängen-Dispersionsspektroskopie) ausgestattet, das es ermöglicht, Elemente auf der Probenoberfläche zu identifizieren und abzubilden. Dieses System ist in der Lage, Elemente wie Phosphor, Natrium, Aluminium, Silizium usw. zu detektieren und wird für die Materialanalyse verwendet. Es hat auch eine EBSD (electron backscatter diffraction) Einheit, die die Kristallstruktur der Probe bestimmen kann. JSM 7600F ist aufgrund seiner hochempfindlichen Detektormaschine in der Lage, hochauflösende Bilder zu erzeugen. Seine sekundären und rückgestreuten Elektronendetektoren, kombiniert mit seiner hochauflösenden Objektivlinse, sind in der Lage, Bruchteil-Mikron-Merkmale auf der Probe zu erfassen. Darüber hinaus kann das EDX (energy-dispersive Röntgenspektrometrie) -Werkzeug des Mikroskops zur Bestimmung der Zusammensetzung der Probe verwendet werden. JEOL JSM 7600F ist in der Lage, verschiedene Abbildungsmodi, einschließlich SEM, TEM (Transmissionselektronenmikroskopie) und STEM (Rasterübertragungselektronenmikroskopie). Das Mikroskop ist zudem mit einer automatisierten Waferstufe ausgestattet, die eine großflächige Abbildung über mehrere Oberflächen ermöglicht. JSM 7600F verfügt über eine große Kammer, die große Probengrößen ermöglicht, sowie automatisierte Probentransfersysteme, die Proben einfach und schnell laden können. Schließlich verfügt das Mikroskop über eine Reihe fortschrittlicher Software, mit der Benutzer Bilder steuern, überwachen und analysieren können. Diese Software ist in der Lage, 3D-Bilder aus mehreren SEM-Bildern zu erstellen und bietet erweiterte Visualisierungs- und Analysetools.