Gebraucht JEOL JSM 7800F #293616742 zu verkaufen

JEOL JSM 7800F ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das beispiellose ultrahochauflösende Bildgebung mit einer Reihe von leistungsstarken analytischen Fähigkeiten kombiniert. Die fortschrittliche Säulenarchitektur von JEOL JSM-7800F ermöglicht die simultane Bildgebung und Analyse in allen Betriebsmodi und liefert hochauflösende, kontrastreiche Bildgebung mit niedrigen Elektronendosen. Die gut gestalteten Bedienelemente und die benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche (GUI) ermöglichen es dem Bediener, das Beste aus der hochauflösenden Bildgebung von JSM 7800 F herauszuholen. Vielseitige Ziehfunktionen, eine leistungsstarke automatische Belichtungssteuerung und integrierte Chrom- und Autofokusfunktionen tragen bei. JSM- 7800F können mit einer Auswahl von Detektoren konfiguriert werden, die es dem Bediener ermöglichen, die beste Systemkonfiguration für die beabsichtigte Anwendung auszuwählen. Sekundärelektronen (SE), rückgestreute Elektronen (BSE) und In-Linsen (IL) Detektoren stehen als Standardoptionen zur Verfügung und TOF-Detektoren können für die Elementaranalyse hinzugefügt werden. Weitere Detektoren umfassen einen Niederwinkeldetektor zur Nanostrukturanalyse, einen Hochwinkeldetektor zur Analyse von Oxidoberflächen und eine Reihe von Detektoren zur Messung bestimmter Elemente. JEOL JSM 7800 F ist so konzipiert, dass es unglaublich vielseitig ist und eine breite Palette von Probengrößen, Formen und Materialien abdeckt. Eine breite Palette von Probenhaltern ermöglicht eine optimale Probenbeladung und stabile Probenpositionierung. Die austauschbare Anode bietet eine ultrascharfe mikroskopische Auflösung, ideal für die Untersuchung von mikrostrukturellen Merkmalen und nanoskaligen Merkmalen. Der In-Column-Energiefilter sorgt zudem flexibel für einen optimalen Bildkontrast. JSM-7800F wird auch mit Video Viewfinding und digitalen Bildgebungsfunktionen geliefert, die schnelleres Laden von Proben und computergesteuertes Scannen für präzise verwaltete mehrstufige Analysen ermöglichen. JEOL JSM 7800F kann auch mit einer Reihe von Peripheriegeräten wie Film/Cine-Kameras, konfokalen Laserscanningmikroskopen und Rastertunnelmikroskopen integriert werden. Insgesamt bietet JEOL JSM-7800F eine hohe Auflösung, ultraschnelles Scannen und Sampling sowie eine breite Palette an Vielseitigkeit und Flexibilität. Die fortschrittliche Säulenarchitektur erzeugt ultrahochauflösende, niedrige Elektronendosis-Bildgebung, während die Auswahl an Detektoren und austauschbaren Anoden eine qualitativ hochwertige Bildgebung für eine breite Palette von Materialien bietet. Darüber hinaus ermöglichen die GUI und integrierte digitale Bildgebungsfunktionen eine schnellere Probenbeladung und computergesteuerte Operationen für mehrstufige Analysen.