Gebraucht JEOL JSM-7800FLV #293664356 zu verkaufen
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ID: 293664356
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Type: Low vacuum
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JEOL JSM-7800FLV ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für überlegene mikroskopische Bildgebung und Leistung entwickelt wurde. Es ist ein zuverlässiges und genaues Werkzeug für die Erforschung von Mikrostrukturen und bietet die bisher höchsten Auflösungs- und Vergrößerungsfunktionen. Das Gerät verfügt über eine große 70 mm-Kammer aus Elektro-Glas-Keramik, die eine hochauflösende Betrachtung von Objekten von der Nanoskala bis zur Makroskala ermöglicht. Dies wird noch durch den Einbau einer Feldemissionselektronenquelle verstärkt, die extrem helle und stabile Elektronenstrahlen liefert und genauere Ergebnisse ermöglicht. Zusätzlich sorgt das integrierte Anti-Vibrations-System für eine zusätzliche Stabilität und minimiert die Fehlermöglichkeit. Das SEM verfügt auch über eine robuste Palette von bildgebenden Werkzeugen, so dass Benutzer ihre Proben mit höchster Genauigkeit und Details visualisieren können. Es enthält eine fortschrittliche optische Bildgebungseinheit mit STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) und EDX (Energy Dispersive X-Ray) -Technologien für unübertroffene 3-dimensionale Bildgebung. Die MINT-Funktionen bieten Benutzern die Möglichkeit, Probenkomponenten auf atomarer Ebene zu untersuchen, während die EDX-Funktionen elementare Analysen und zugehörige Konzentrationsinformationen ermöglichen. Zur Bequemlichkeit kommt JSM-7800FLV auch mit einer vollautomatischen Probentransfermaschine, die einfach zu bedienen und zuverlässig ist. Dadurch entfällt die Notwendigkeit kostspieliger manueller Prozesse und der Benutzer kann sich auf die kreativen Aspekte der Forschung konzentrieren. Insgesamt ist JEOL JSM-7800FLV ein effizientes, vielseitiges und zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop. Die erweiterten optischen Bildgebungsfunktionen und das automatisierte Tool bieten Anwendern eine überlegene Bildgebungsleistung und die Fähigkeit, ihre Proben mit Präzision und Genauigkeit zu analysieren. Damit ist das SEM ein ideales Werkzeug für Forschungsaktivitäten aller Art, von der Materialwissenschaft bis hin zu biomedizinischen Anwendungen.
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