Gebraucht JEOL JSM 810A #293592662 zu verkaufen

JEOL JSM 810A ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop), das für eine Vielzahl von Anwendungen in der Lebens- und Körperwissenschaft geeignet ist. Diese Art von SEM ist zu einem wesentlichen Werkzeug für die Probenanalyse, Bildgebung und Charakterisierung in den Bereichen Nanomaterialtechnik, medizinische Diagnostik und Arzneimittelentwicklung, Materialwissenschaft und vielen anderen Bereichen geworden. Entwickelt mit überlegener Leistung und beispielloser Genauigkeit, verfügt JSM 810A über eine fortschrittliche ultra-hohe Vakuumsäule, neu gezeichnet, um Energieverlust zu minimieren, und verbesserte Elektronenoptik, was zu hochauflösenden Bildgebungs- und Partikelanalysefunktionen führt. JEOL JSM 810A bietet eine Reihe von Probencharakterisierungstechniken wie EDX (energy dispersive X-ray spectroscopy), EBSD (electron backscatter diffraction), WDD (wide-angle dark-field detector) und STEM (scanning/transmission electron microscopy), um nur einige zu nennen. Diese Techniken liefern wertvolle Informationen über die elementare Zusammensetzung und Struktur von Proben. Das SEM ermöglicht auch die Auswertung dreidimensionaler Proben mit hochauflösenden 3D-Beobachtungsfunktionen wie hochauflösender SEM-Bildgebung und automatischem Nähen. Letzteres beseitigt den mühsamen manuellen Bildnahtvorgang und den damit verbundenen potenziellen Fehler. Darüber hinaus ist JSM 810A mit verschiedenen bildgebenden Modi ausgestattet, so dass Benutzer ihre Erfahrung so anpassen können, dass sie den Anforderungen ihrer Anwendung am besten entsprechen. JEOL JSM 810A ermöglicht es Benutzern auch, eine Vielzahl von Spektren wie EDX, EBSD und sekundäre/tertiäre Elektronenemission (TEE) zu erwerben. Die Spektralerfassung wird durch den Hochgeschwindigkeits-, Hochauflösungsdetektor und die computergesteuerte Elektronik verbessert. Die TEE-Daten können zur subflächigen elementaren Abbildung der Probe verwendet werden. JSM 810A verfügt über eine intuitive Benutzeroberfläche, um die Datenerfassung und -analyse zu vereinfachen. Das ergonomische Design erleichtert Anwendern den Zugriff auf und die Bearbeitung der Funktionen des Instruments sowie die Bereitstellung umfangreicher Bildschirmdokumentation zu Bildgebungsparametern, Anwendungen und Datenanalysen. Insgesamt ist JEOL JSM 810A ein fortschrittliches SEM, das für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet ist. Seine überlegene Elektronenoptik, seine Funktionen zur Sammlung mehrerer Spektren und seine erweiterten Bildverarbeitungsalgorithmen machen es zu einer idealen Wahl für Benutzer, die eine hochauflösende Analyse ihrer Proben durchführen müssen.