Gebraucht JEOL JSM 820 #9373249 zu verkaufen

JEOL JSM 820 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur Analyse der Morphologie, Zusammensetzung und Kristallographie von Materialien. Es arbeitet mit einer Spannung von 0,1 - 30 kV und einem nominalen Sondenstrom von bis zu 200 nA und bietet sowohl hochauflösende Bildgebung als auch elementare Identifikation. Das SEM verwendet eine FEG-Quelle (Field Emission Gun), die thermisch stabilisiert ist, um eine konsistente Bildgebungsleistung zu gewährleisten und eine ausgezeichnete Auflösung über mehrere Scans hinweg zu erhalten. Es kann auch für die Mikroanalyse verwendet werden und kann mit einem Röntgendetektor, EDX-System (Energy Dispersive Röntgenanalyse) und einer Vielzahl von Sonden ausgestattet werden, um eine Reihe von Materialien zu charakterisieren. JSM 820 verfügt über einen großen Arbeitsabstandsbereich von 4mm bis 30, 40 oder 60 mm, der breitere Sichtfelder ermöglicht. Die Abbildungskammer ist mit einer motorisierten Verfahrstufe ausgestattet, die es ermöglicht, die untersuchte Probe mit Hilfe von 12 μ m Schrittmotoren horizontal und vertikal über das Probenfenster zu bewegen. Die Prüfer können auch die Power-Iterator-Funktion nutzen, mit der Mikroskopeinstellungen während des Scans für genaue Bildgebung und Ergebnisse angepasst werden können. Das Mikroskop bietet mehrere Möglichkeiten, die Probe zu kühlen, einschließlich flüssigem Stickstoff, flüssigem Helium, Wasserstrahlkühlung und eutektischer Kühlung, um Probenschäden während der Bildgebung zu verhindern. JEOL JSM 820 verfügt über mehrere automatisierte Funktionen wie halb- und vollautomatische Bildnähte, automatisierte Makroprogrammierung und automatisiertes Nähen und Zusammenfügen. Die Bildeinstellungen und -parameter können mit einem automatisierten Bildparameter-Setup einfach angepasst und für zukünftige Bildgebungssitzungen gespeichert werden. Darüber hinaus unterstützt die Software des Mikroskops für Anwender mit speziellen SEM-Anforderungen mehrere Betriebsmodi, einschließlich Informationsmodus, Low-kV-Modus und Single Particle Analysis (SPA). JSM 820 ist sowohl für praktische als auch für Forschungszwecke konzipiert und bietet präzise Messungen und genaue Bilder. Mit seiner langlebigen Konstruktion und präzisen Leistung kann es Ergebnisse liefern, die für ressourcen- und energiebezogene Forschung sowie andere wissenschaftliche Bereiche wie Materialwissenschaft und Ingenieurswesen geeignet sind.