Gebraucht JEOL JSM 840 #175953 zu verkaufen

JEOL JSM 840 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Präzisionsforschung und Analyseanwendungen. Es verfügt über eine Feldemissionskanone (FEG), die Fernstrahlströme und einen weiten Spannungsbereich für die gewünschte Auflösung und Strahlkapazität erzeugt. Sein digitaler Signalprozessor (DSP) und Hochgeschwindigkeits-Scanning sorgen für schnelles und reibungsloses aktives Scannen. Der ultrahochauflösende Neigungswinkeldetektor sorgt für präzises und schnelles Selbstverkippen. JSM 840 bietet einen Vergrößerungsbereich von bis zu 300.000x und eine Auflösung von bis zu 1,0 Nanometer. Sein EDS-System ermöglicht eine schnelle und genaue Elementaranalyse. Die flexible Schaltbarkeit zwischen verschiedenen Modi (einschließlich SE, BSE, CL und SE/BSE-Kanalisierung) erhöht die Vielseitigkeit der Proben und ermöglicht einen effizienteren Betrieb. Die Strömungskammerregelung hält ein hohes Vakuum aufrecht, während die Druckregelung die Umgebungsstörung der Probe minimiert. JEOL JSM 840 verfügt zudem über eine intuitive Benutzeroberfläche mit grafischen Funktionen und eine dedizierte Grafikchipkarte, die die Bedienung vereinfacht. Es kann bis zu 256 Beispielbilder in seinem Speicher speichern und kann für eine zeiteffiziente Nutzung ferngesteuert werden. Das computerintegrierte Design ermöglicht den gleichzeitigen Betrieb von JSM 840 mit anderen Systemen wie SEM/EDS und SEM/FIB. Es unterstützt auch den Datenexport in Software von Drittanbietern. JEOL JSM 840 ist ein zuverlässiges und vielseitiges Probenahmesystem, das überlegene Ergebnisse für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen liefert. Das Hochleistungssystem sorgt für präzise Messungen bei minimalem Benutzeraufwand. Das robuste Design und die Qualitätskontrolle sorgen für maximale Zuverlässigkeit und Wartbarkeit. Mit seiner Kombination aus Eigenschaften und hervorragender Leistung ist JSM 840 ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop.