Gebraucht JEOL JSM 840 #9102733 zu verkaufen

JEOL JSM 840 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM) für eine Vielzahl von Anwendungen. Es bietet detaillierte Bilder mit Nanometer-Auflösung und Akquisitionszeiten von mehreren tausend Bildern pro Sekunde. Es verfügt über eine integrierte zweipolige, höhenverstellbare elektrostatische Säule, eine integrierte Nassätzausrüstung und einen eingebauten, ultra-breitbandigen Energiefilter. Der Energiefilter liefert einen Energiebereich bis + oder - 1000 Elektronenvolt (eV) und ermöglicht so die Optimierung von Bildern für unterschiedliche Materialien und Oberflächentopographien. JSM 840 hat auch einen fokussierten Ionenstrahl, der Proben für fast jeden bildgebenden Zustand liefern kann. Eine ultrahochauflösende Bildspalte mit einer digitalen variablen Astigmatismus-Steuerungsfunktion ermöglicht eine verbesserte Bildqualität, feinere Details und glattere Gradientenübergänge unter schwierigen Abbildungsbedingungen. Das integrierte Nassätzsystem reduziert Zeit und Komplexität der routinemäßigen Probenvorbereitung. JEOL JSM 840 hat viele potentielle Anwendungen, und es ist gut geeignet für eine Vielzahl von Materialien, einschließlich Halbleitersilizium, Verbundhalbleiter, Keramik und fortschrittliche Metallisierungsschichten. Die ausgeklügelte Steuereinheit erstreckt sich auf den Energiefilter und die Ionenquelle und ermöglicht Feineinstellungen in bildgebenden Parametern und optimalen Kontrast. Die hochauflösende Bildgebungssäule, der ultrabreite Energiebereich und die Nassätzmaschine sind ideal für Studien von Halbleitersilizium, Verbundhalbleitern, Keramiken und fortschrittlichen Metallisierungsschichten. JSM 840 verfügt über eine automatische Probenaustauschkammer, die das Be- und Entladen von Proben vereinfacht. Die Austauschkammer ist mit einem automatisierten Bühnenwerkzeug zur einfachen und konsistenten Probenbeladung ausgestattet. Die Bühnenanlage kann aufgrund ihres großen Winkelbereichs in enge Räume gelangen und ermöglicht eine effiziente Abbildung von Proben in schwierigen Proben- oder Montagekonfigurationen. JEOL JSM 840 ist ein flexibles, benutzerfreundliches und leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das ausgezeichnete bildgebende Ergebnisse und verbesserte Produktivität liefern kann.