Gebraucht JEOL JSM 840A #293592718 zu verkaufen

JEOL JSM 840A ist ein Rasterelektronenmikroskop („SEM“), das für eine Vielzahl von Anwendungen in Wissenschaft und Industrie entwickelt wurde. Das SEM ist in der Lage, hochauflösende Bilder von nanoskaligen Objekten von Mikrometern bis Nanometern mit einem energiedispersiven Röntgenspektroskopiesystem (EDS) zu erzeugen. Das Instrument ist für die Bildgebung, Analyse und andere wissenschaftliche Zwecke optimiert, wie die Visualisierung von Strukturen in biologischen Materialien, sowie die Charakterisierung von Materialien und Elementaranalysen von niedrigen und hohen Z-Materialien. JEOL JSM-840A verfügt über eine LAN-Schnittstelle und ist mit einem dedizierten schnellen Bildprozess ausgestattet, der eine Auflösung von bis zu einem Megapixel ermöglicht. Es hat eine Vergrößerung von bis zu einer Million Mal, über 64x bei Original-Scan-Größe, ermöglicht eine hochauflösende Abbildung von dicht gepackten feinen Strukturen. Das EDS-System ist in der Lage, sowohl niedrige als auch hohe Z-Materialien direkt zu analysieren, mit einem breiten Bereich von der sichtbaren bis zur Röntgenwellenlänge. Das SEM ist mit einer einzigartigen „Flüsterlinse“ ausgestattet, die einen stabilen Weg zwischen der Objektivlinse und der Probe beibehält und somit ein kontrastreiches Bild ohne Aberrationen liefert. JSM 840A ist mit einem variablen Drucksystem ausgestattet, das den Betrieb unter verschiedenen atmosphärischen Bedingungen sowie die Abbildung im Vakuum ermöglicht. Es ist auch mit einer Parametrol-Linse ausgestattet, die es dem Benutzer ermöglicht, sowohl Spannung als auch Strom unabhängig zu steuern, um den Bildkontrast weiter zu optimieren. JSM-840A ist intuitiv und benutzerfreundlich gestaltet und bietet leistungsstarke Software, einschließlich einer benutzerfreundlichen grafischen Benutzeroberfläche (GUI), die die Bedienung und Steuerung des Instruments vereinfacht. Das SEM ist auch mit vielen Sicherheits- und Sicherheitsmerkmalen ausgestattet, einschließlich Sicherheitsschlössern und vibrationssicheren Systemen, die eine sichere Arbeitsumgebung für den Benutzer und das Instrument gewährleisten. Insgesamt ist JEOL JSM 840A ein leistungsstarkes, benutzerfreundliches Rasterelektronenmikroskop, ideal für die Charakterisierung und Abbildung von nanoskaligen Objekten. Es kann hochauflösende Bilder mit ausgezeichnetem Kontrast erzeugen und ist mit einer Vielzahl von Funktionen ausgestattet, um die Bedienung zu vereinfachen und die Sicherheit zu verbessern.