Gebraucht JEOL JSM 840A #293729703 zu verkaufen

JEOL JSM 840A ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in der Lage ist, eine breite Palette von bildgebenden und analytischen Techniken durchzuführen. Das SEM bietet eine Auflösung von Proben auf Submikronebene im Bereich von 0,3 nm. Das Mikroskop verwendet ein In-Linsen-Design, das eine einzigartig geformte Elektronenkanone und einen neuartigen Satz von Linsen aufweist, um eine überlegene Hochdurchsatzanalyse zu gewährleisten. Die Probenkammer ist außergewöhnlich groß und bietet Platz für bis zu 180mm große Proben, so dass eine Vielzahl von Probentypen abgebildet werden können. Die 80kV Elektronenkanone liefert einen hohen Strom von bis zu 10nA für eine bessere Bildgebung und ist mit einem digitalen Auto-Tilt-System ausgestattet, das die Ausrichtung der Proben vereinfacht. Darüber hinaus ist die Kammer mit einem Dickenkompensationsmerkmal ausgestattet, das variable Probendicke oder Inkonsistenzen in der Leitfähigkeit der Probe ausgleicht. Das SEM verfügt über eine Reihe von In-Column-Detektoren, darunter einen Imaging Detector (EID) zur Erzeugung hochwertiger SEM-Bilder, Sekundärelektronendetektor (SED) zur Detektion von Sekundärelektronen zur Bildgebung und Analyse, Back Scattered Detector (BSD D) zur Bewertung. Die Probenkammer ist außerdem mit einer großen Bühnenplattform zur automatisierten Probenabtastung ausgestattet. Neben der Bildgebung bietet JEOL JSM-840A eine Fülle von analytischen Fähigkeiten und gibt dem Anwender wertvolle Einblicke in die Probe. Seine energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX) und Energiefilter ermöglichen es Benutzern, schnell halb-quantitative elementare Zusammensetzungsinformationen aus einer Probe zu erhalten. Auch das Belichtungssystem des Mikroskops ist sehr zuverlässig und stellt sicher, dass Proben unter optimalen Bedingungen abgebildet werden. Dieses Rasterelektronenmikroskop verfügt über eine einfach zu bedienende Software-Benutzeroberfläche für Scannen, Bildanalyse und Manipulation sowie Datenpräsentation. Es kann Daten in verschiedenen Formaten exportieren und ermöglicht eine weitere Analyse in externer Software. Die benutzerfreundliche Oberfläche ist hochgradig anpassbar und bietet einen effizienten Zugriff auf alle Mikroskopfunktionen. Abschließend ist JSM 840A ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das eine Submikronauflösung und eine breite Palette von analytischen Fähigkeiten bietet. Seine große Probenkammer und leistungsstarke Elektronenkanone machen es zu einer idealen Wahl für verschiedene Anwendungen, wie Materialwissenschaft, Fehleranalyse und Halbleitertechnik.