Gebraucht JEOL JSM 840A #9039277 zu verkaufen

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ID: 9039277
Scanning electron microscope (SEM) Includes: Morphological observation Full element analysis capability Observation of specimen to 10 nm or less Specification: Resolution: Secondary electron image: 4nm-10nm (WD = 8mm-39mm, Acc. Volt = 35kV) Backscattered electron image: 10mn (WD = 8mm, Acc. Volt = 35kV) Magnification: 10X-300,000X Image modes: Secondary electron image Backscattered electron image Electron channeling pattern Emission pattern image Specimen movement: X= 15mm, Y=25mm, Z=31mm, Tilt: 90 degree Rotation: 360 degree endless. Specimen holders: 12.5 mm dia. x 10 mmH, 32 mm dia. x 20 mmH, 50 mm dia. x 10 mmH Specimen exchange Airlock type, up to 32mm dia. specimen.
JEOL JSM 840A ist ein anspruchsvolles Rasterelektronenmikroskop (SEM) der JEOL Ltd. Engineering Company, ein weltweit führendes Unternehmen in der Elektronenmikroskopie. JEOL JSM-840A ist eine hochauflösende Niedrigvakuumfeldemission, Elektronmikroskop mit einem großen Raumdesign scannend, Proben bis zu 130 Millimeter im Durchmesser erlaubend, um bei der verschiedenen Vergrößerung und den Feldgrößen ohne den Bedarf am Beispielaustausch beobachtet zu werden. JSM 840A verfügt über eine Umwelttechnikkammer, eine 80-Millimeter-Objektivlinse und einen rückgestreuten Elektronendetektor vom 3-Megapixel-Typ zur Verbesserung der hochauflösenden Bildgebung. Die Optik und der Detektor sind mit höchster Präzision ausgelegt und liefern Bilder mit den genauesten Details. Darüber hinaus ist JSM-840A speziell auf Flexibilität mit einer Vielzahl von Betriebsparametern und Softwarelösungen ausgelegt. Darüber hinaus bietet das Gerät energie- und winkelaufgelöste bildgebende Funktionen für die materialwissenschaftliche Bildgebung. Mit der Installation des In-Column-Energieselektors hat JEOL JSM 840A die Fähigkeit, Röntgenstrahlen, Elektronen und Auger-Signale für die spektroskopische Analyse genau zu detektieren. Diese einzigartige Funktionalität wird häufig für die elementare, morphologische und chemische Analyse von Proben verwendet. JEOL JSM-840A ist darüber hinaus mit modernsten Steuerungsfunktionen ausgestattet, die es dem Benutzer ermöglichen, die Betriebsbedingungen genau zu bestimmen und mit wenigen einfachen Tastenanschlägen zu einem vorgegebenen Satz von Bedingungen zurückzukehren. Darüber hinaus ermöglicht die externe Steuerungssoftware des Systems Benutzern die einfache Fernsteuerung mehrerer Instrumente. Schließlich sorgt JSM 840A für hervorragende Wiederholbarkeit und Stabilität des Betriebs und der Bildqualität durch seine fortschrittliche eigene Kühleinheit und Hybridantriebsmaschine. Die spezielle leitfähige keramische Vakuumkammer minimiert außerdem Werkzeuginterferenzen und ermöglicht eine zuverlässigere analytische und bildgebende Leistung. JSM-840A ist ein unschätzbares Werkzeug für die Forschung und Analyse von Materialien und ist nur eines der vielen JEOL-Produkte, die die Bedürfnisse von wissenschaftlichen Fachleuten erfüllen können.
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