Gebraucht JEOL JSM 840A #9069106 zu verkaufen

JEOL JSM 840A Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein vielseitiges Werkzeug zur Erzeugung hochauflösender Bilder von Proben in Plan- und Seitenansichtsorientierung. Das Mikroskop verwendet eine Elektronenquelle, um sekundäre und rückgestreute Elektronen zu detektieren, deren Bilder auf einen Leuchtstoffschirm projiziert werden. Das SEM liefert hochauflösende Bilder von Proben von 1 nm bis 1000 μ m Größe. Hauptkomponente des SEM ist die Feldemissionselektronenquelle, die aus einem Filament besteht, aus dem Elektronen emittiert werden. Die emittierten Elektronen werden dann durch Hochspannung, 7kV oder 15kV, beschleunigt, um durch die Pistole und die Blende zu gelangen. Ein korrekt eingestelltes Waffenlinsen- und Extraktionslinsensystem gibt den Elektronen ihre benötigte Energie und fokussiert sie auf einen kleinen Fleck, 1nm-1 μ m. Das Elektronenstrahl-Abtastsystem besteht aus mehreren Ablenkern und 3-achsigen Abtastspulen, mit denen vorgegebene zweidimensionale Muster zur Abtastung der Probenoberfläche erzeugt werden. Das Elektronenstrahl-Abtastsystem bewegt den Strahl in einem vorgewählten Rastermuster auf der Probenoberfläche und die Sekundärelektronen (SE) und die rückgestreuten Elektronen (BSE) werden von Detektoren gesammelt, die sich auf beiden Seiten der Probenstufe oder auf der Bühne selbst befinden. Die Elektronen durchlaufen dann einen elektronischen Verstärker, der den Strahl zur Verarbeitung und Digitalisierung auf das Target (Leuchtstoffschirm) vergrößert und weiter fokussiert. Der Elektronenstrahl durchläuft eine Pixelzelle, in der sowohl die Elektronen als auch ihre zugehörige Energie eine Projektion des Abblendstrahls auf das Ziel erzeugen. Das Bild auf dem Ziel wird dann digitalisiert, gespeichert und auf einem Monitor betrachtet, was eine quantitative Analyse der Merkmale der Probe ermöglicht. Neben der SEM-Bildgebung bietet JEOL JSM-840A auch die Möglichkeit der Elementaranalyse durch Kombination der Energiedispersiven Spektrometrie (EDS) mit der SEM-Komponente. Das EDS-Modul ist für die elementare Kartierung konzipiert und kann anhand der Analyse des Energiespektrums und für kleine interessante Regionen elementare Kompositionsinformationen liefern. JSM 840A ist ein massiv leistungsstarkes Instrument, das hochauflösende Bilder mit Vergrößerungsbereichen von bis zu x650.000 erzeugen kann. Während dieses Mikroskop schwerer ist als die meisten, bietet es größere und vielseitigere Scanmöglichkeiten. Als solches ist es ein ideales Werkzeug für wissenschaftliche und industrielle Forschung und bildgebende Anwendungen.