Gebraucht JEOL JSM 840A #9210598 zu verkaufen

JEOL JSM 840A
ID: 9210598
Scanning electron microscope (SEM).
JEOL JSM 840A ist ein High-End-Rasterelektronenmikroskop mit fortschrittlichen bildgebenden Funktionen. Seine Rasterelektronenoptik kombiniert eine breite Palette von Detektionsmodi einschließlich Rückstreuung, Sekundärelektronen, transmittierte Elektronen und energiedispersive Röntgenspektroskopie. Es verfügt auch über eine hochauflösende digitale Bildgebungsausrüstung und anspruchsvolle Probenvorbereitungstechniken. JEOL JSM-840A bietet einen maximalen Elektronenstrom von 0,2-40 nA und eine Auflösung von bis zu 5 nm. Der beeindruckende Vergrößerungsbereich von 50 bis 400.000 Mal ermöglicht das detaillierte Scannen und Analysieren einer Vielzahl von Proben. Sein variabler Druck (0,015-0,5 Pa) und Hochgeschwindigkeits-Scanning (bis zu 10.000 Rahmen/s) ermöglichen die Beobachtung instabiler und dynamischer Merkmale wie Korrosion, Erosion und andere Schadensformen. JSM 840A verfügt außerdem über einen Röntgendetektor mit fester Wellenlänge und einen kippbaren Probenkammern, die beide eine Analyse einer Vielzahl von Materialien ermöglichen, die das gesamte Periodensystem überspannen. JSM-840A verfügt über eine Leiterplattenätzkammer (PCB), die die Abbildung von sehr kleinen Objekten erleichtern kann. Ein automatisiertes Sample Manager (ASM) System übernimmt die Präsentation von Proben ohne manuelle Manipulation. Für höchste Flexibilität sorgt die fortschrittliche computergesteuerte Musterpositioniereinheit für 3-achsige Neigung und Rotation. Zusammen ermöglichen SEM und ASM das wiederholte Scannen und Abbilden derselben Probe ohne Beschädigung. Die benutzerfreundliche, intuitive Benutzeroberfläche des 840A kombiniert mit seinem breiten Spektrum an dedizierten Softwarepaketen macht es einfach zu bedienen. Es ermöglicht Benutzern, die Vergrößerung, Beschleunigungsspannung, Strahlstrom und Neigung anzupassen. Zusätzliche Merkmale wie Strahlaustastung, Rahmenmittelung, Kontrasteinstellung und Partikelgrößenerkennung erleichtern zudem präzise und empfindliche Abbildungsoperationen. Abschließend ist JEOL JSM 840A ein leistungsstarkes, vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das sich hervorragend für die Untersuchung unterschiedlichster Materialien eignet. Mit seiner beeindruckenden Optik, der fortschrittlichen digitalen Bildverarbeitungsmaschine, den anspruchsvollen Probenvorbereitungstechniken und der intuitiven Benutzeroberfläche ist das 840A ein ideales Werkzeug für ausgebildete Fachleute und Anfänger.
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