Gebraucht JEOL JSM IC848A #9039276 zu verkaufen

JEOL JSM IC848A ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Reihe von analytischen und bildgebenden Anwendungen entwickelt wurde. Insbesondere bietet dieses SEM eine unübertroffene Auflösung, um biologische und physikalische Proben zu untersuchen und eine genaue Analyse ihrer Mikrostrukturen zu erstellen. Mit einer breiten Palette von analytischen Fähigkeiten ist JEOL IC848A in der Lage, eine sehr detaillierte und genaue Abbildung verschiedener mikroskopischer Strukturen zu erstellen. Dieses leistungsstarke und effiziente SEM ist mit einer hochauflösenden Erwin Einzel-Linse und einer fortschrittlichen Quad-Pol-Magnetelektronensäule ausgestattet. Diese Kombination von Technologie bietet eine hohe Präzision in der Analyse und Bildgebung von Proben. Darüber hinaus verfügt das von diesem SEM verwendete Scangerät über ein Feinfelddesign, das es ermöglicht, feinste Details einer Probe bei geringer Vergrößerung zu erfassen. Diese Funktion macht JEOL IC848A zu einem wertvollen Werkzeug für Scan- und Bildgebungsanwendungen. Darüber hinaus verfügt dieses Instrument über eine elektronenoptische Säule und ein digitales Auslesesystem, das Änderungen in der Struktur der Probe mit einer Auflösung von 0,02 Mikrometern erfassen kann. Aufgrund seiner hochauflösenden und fortschrittlichen Erkennungseinheit kann JEOL IC848A die Mikrostruktur verschiedener Materialien wie Metalle, Keramik und Verbundwerkstoffe genau messen. In Bezug auf die Bildgebungsfähigkeit verfügt JEOL IC848A über eine Elektronen-Fotomultiplikatorkamera und einen ultrahochempfindlichen Detektor. Beide Eigenschaften liefern qualitativ hochwertige und präzise Abbildungsergebnisse für eine breite Palette von Probentypen. Benutzer können die optischen Funktionen des SEM steuern und Zeit sparen, indem sie mehrere Bilderfassungssysteme im Tandem betreiben. Um seine Leistung zu verbessern, integriert JEOL IC848A die neueste Soft-Röntgenlithographie-Technologie, mit der Benutzer die Mikrostruktur von Materialien auf hochgenaue Weise verstehen können. Darüber hinaus arbeitet dieses SEM mit einer integrierten Inspektionsmaschine, die Details einer Probe auf Oberflächenebene erkennen und eine Elementaranalyse eines beliebigen Materials durchführen kann. Insgesamt ist JSM IC848A ein leistungsstarkes und fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das eine Reihe von analytischen und bildgebenden Funktionen bietet. Mit seinen fortschrittlichen Funktionen und der hochauflösenden Bildgebung ist es ein wertvolles Werkzeug, um die Mikrostrukturen einer Vielzahl von Materialien genau zu charakterisieren und zu analysieren.