Gebraucht JEOL JSM IT100 #293594511 zu verkaufen

JEOL JSM IT100 ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das die Abbildung und Analyse von der Nano- bis zur Makroskala ermöglicht. Die hohe Vergrößerung, bildgebende Auflösung und der hohe Empfindlichkeitsbereich machen es zu einem wertvollen Werkzeug für Forschung und Entwicklung in einer Vielzahl von Bereichen, einschließlich Halbleiterproduktion, Materialwissenschaft und Fehleranalyse. Die Elektronenquelle ist eine Ultra-Hochspannungs-Super-Bright-Pistole, die Elektronen bis zu 30kV beschleunigen kann, was die hohe Vergrößerung und Auflösung des Mikroskops bewirkt. Darüber hinaus kann mit dem Nanofokusmerkmal die Elektronenstrahlgröße bei bis zu 25 nm stabil sein. Darüber hinaus ermöglicht der analytische Röntgenaufsatz das Umkehren von JEOL JSM-IT 100 in einen Transmissionselektronenmikroskop (TEM) -Modus mit einem DIP-Detektorsystem (Digital Imaging Plate), das eine elementare und strukturelle Analyse von Proben ermöglicht. Die Digitalkamera in JSM IT 100 ermöglicht eine Echtzeit-Bildgebung und kann zur Erzeugung von 2D- und 3D-Bildern verwendet werden. Die Probenvorbereitung für JEOL JSM IT 100 ist für eine Vielzahl von Proben einfach, wobei die Kammer eine große Probenkammer und eine breite Palette von Zubehör zur Handhabung verschiedener Probenformen aufweist. Einige dieser Zubehörteile umfassen einen Vakuumaufsatz, eine Kryostufe, einen Autosampler und eine Heizstufe. Die von JSM-IT 100 generierten Ergebnisse können für eine Vielzahl von Zwecken verwendet werden, insbesondere zur Fehleranalyse einer Vielzahl von Materialien. Die hochauflösenden bildgebenden und elementaren Analysefähigkeiten des Mikroskops ermöglichen es Forschern, Probleme mit Komponenten zu identifizieren und Simulationen zur Analyse der Fehlerursache zu erstellen. Die in der JSM IT100 enthaltene, ausgeklügelte Software ermöglicht eine benutzerfreundliche Analyse und Manipulation der gesammelten Daten. Es umfasst eine breite Palette von Bildverarbeitungs- und Datenanalysefähigkeiten, einschließlich Bildgebung mit Amplituden, Phasenbildgebung, Partikelanalyse und Elementaranalyse. Diese sind alle über das Automatisierungstablett zugänglich und machen es einfach, die gewünschten Ergebnisse zu erhalten. Insgesamt ist JEOL JSM IT100 mit seiner hohen Auflösung, Empfindlichkeit und einer Vielzahl von Zubehör- und Analysefunktionen ein wesentliches Werkzeug für Forschung und Entwicklung in einer Vielzahl von Bereichen. Sein ausgeklügeltes Feature-Set bietet Benutzern die Vielseitigkeit, die sie benötigen, um das Beste aus ihren SEM-Experimenten herauszuholen.