Gebraucht JEOL JSM IT100 #9242147 zu verkaufen

JEOL JSM IT100 ist ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das hauptsächlich für die Bildgebung, Analyse und Probenvorbereitung für eine Vielzahl von Materialien entwickelt wurde. Dieses fortschrittliche Hochleistungs-SEM bietet hervorragende Flexibilität für präzise Werkstoffcharakterisierung. JEOL JSM-IT 100 verwendet eine Niederspannungs-Feldemissionskanone (FEG) -Elektronenquelle mit hochstabiler Leistung, die eine hervorragende Auflösung und einen Ultraniederspannungsbetrieb ermöglicht. Die automatisierte Probenphase und die Anzeigegeräte schaffen einen effizienten Abbildungs- und Analyseablauf für den einfachen Zugriff auf die SEM-Funktionen. Das Gerät behält eine beispielhafte Reproduzierbarkeit von bildgebenden Parametern bei und ermöglicht präzise, wiederholbare Ergebnisse über verschiedene Proben hinweg. JSM IT 100 ist mit einem großen Sichtfeld, einer hohen Vergrößerung von bis zu 220,000X und einem geringen Energieverlust in Linsenfeldern ausgestattet, was eine detaillierte Bildgebung ermöglicht. Das System verfügt auch über einen geräuscharmen Boden für genaue Signal-zu-Rausch-Analyse. Darüber hinaus bietet JEOL JSM IT 100 einen neuartigen Bildgebungsmodus - Screening Electron Diffraction (SED) -, der eine hochauflösende Bildgebung bei extrem hohen Vakuumverhältnissen unter Beibehaltung einer ausgezeichneten Tiefenauflösung ermöglicht. JSM IT100 ist eine vielseitige Einheit mit einem breiten Anwendungsspektrum. Es kann für die Oberflächenanalyse und Bildgebung von Materialien, Metallen, Strukturen, Nanomaterialien und Geräten, 3D-Bildgebung, Fehleranalyse und mehr verwendet werden. Sie kann auch zur Materialcharakterisierung wie Korngrößenmessung, Verteilungsanalyse, Phasenerkennung und Fehleranalyse verwendet werden. Mit seiner automatischen Stufe SD-BP können Anwender sehr schnell großflächige Proben mit hoher Genauigkeit vorbereiten. Die analytischen Fähigkeiten von JSM-IT 100 können auch mit einer breiten Palette von Umweltgeräten und bildgebenden Systemen kombiniert werden, wie der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS), der Röntgenfluoreszenzmikroskopie (XFM) und den laseroptischen Systemen. Insgesamt ist JEOL JSM IT100 ein hochentwickeltes Rasterelektronenmikroskop für die Materialcharakterisierung und Probenvorbereitung. Es ist einfach zu bedienen und bietet Anwendern eine hervorragende Auflösung, Stabilität und Genauigkeit sowie eine breite Palette von Analysefunktionen. Diese Maschine ist perfekt für die Untersuchung einer breiten Palette von Nanomaterialien und Geräten.