Gebraucht JEOL JSM IT500 HR #293747829 zu verkaufen
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ID: 293747829
Weinlese: 2018
Scanning Electron Microscopes (SEM)
Backscatter
EDAX EDS Detector
Low vacuum mode
2018 vintage.
JEOL JSM IT500 HR ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für hochauflösende Bildgebung und Analyse. Es hat ein Sichtfeld von bis zu 13 mm und eine Beschleunigungsspannung von bis zu 30 KV. Es verwendet eine neue elliptische elektrostatische Flachlinse mit einer neu entwickelten elektromagnetischen Doublet-Linse für die hochauflösende Bildgebung mit ihren einzigartigen gut kontrollierten sphärischen Aberrationseigenschaften (CSA). Diese CSA ermöglicht eine 3D-dynamische Fokussierung auf die Probenoberfläche, was zu schärferen und höher auflösenden Bildern führt. JSM IT500 HR verfügt über eine neue, verbesserte Hochtemperaturstufe (HTS), die auf bis zu 500 ° C erwärmt werden kann und zur Analyse wärmeempfindlicher, wärme- oder hochtemperaturverarbeiteter Proben geeignet ist. Dies geschieht über ein neu entwickeltes Flüssigstickstoff-Kühlelement ohne Flüssigstickstoff-Kühlung. Es hat auch einen neuen präzisen groben Zoom-/Feinzoommechanismus, der eine genaue Positionierung der Probe auch bei einer großen Vergrößerung ermöglicht. Dieses Rasterelektronenmikroskop weist zudem ein verbessertes Signal-Rausch-Verhältnis für eine erhöhte analytische Leistung auf. JEOL JSM IT500 HR verfügt über ein Hochdruck-SEM-System (HPSEM) mit einem neuen Hochvakuumsystem, das von 20 bis 0,01 Pa. geregelt werden kann. Dieses System eignet sich besonders zur Analyse von Proben unter hohem Druck. Es ist auch mit einem neuen EDX-Detektor ausgestattet, der Elementzusammensetzungen mit einem verbesserten Signal-Rausch-Verhältnis und erhöhter Auflösung detektieren kann. Dedizierte Software mit JSM IT500 HR bietet kundenspezifische Bildanalyse nach der Erfassung. Dieses Softwarepaket hilft dabei, Funktionen der aus dem Mikroskop gewonnenen Bilder zu analysieren, zu messen und zu vergleichen. Es gibt auch eine komplementäre Vielzahl von statistischen Annäherungsinstrumenten, um die Ergebnisse der analysierten Bilder zu quantifizieren. Insgesamt bietet JEOL IT500 HR-Rasterelektronenmikroskop Anwendern ein leistungsstarkes bildgebendes und analytisches Werkzeug auf der Grundlage seiner einzigartigen, hochauflösenden elliptischen elektrostatischen Linse und erweiterten HTS- und EDX-Funktionen. Durch die Kombination seiner leistungsfähigen Bildgebungs- und Analysefähigkeiten ist es ein großartiges Werkzeug für Forschung und Entwicklung in einer Vielzahl von Bereichen.
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