Gebraucht JEOL JSM T300 #293664531 zu verkaufen

JEOL JSM T300 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die Bildgebung und Analyse von Materialien bis zur Nanoskala entwickelt wurde. JSM T300 hat eine breite Palette von Anwendungen in vielen verschiedenen Forschungsbereichen wie Materialwissenschaft, Kristallographie, Biomedizin und Biowissenschaften. Es ist mit mehreren fortschrittlichen Technologien ausgestattet, die es Forschern ermöglichen, die Grenzen der wissenschaftlichen Entdeckung weiter zu verschieben. JEOL JSM T300 verfügt über eine 1kV beschleunigende Spannung, die ihm die höchste Ausstattungsauflösung in der 'T-Serie' -Reihe gibt. Dies ist gekoppelt mit einer variablen Druckkammer, die Drücke bis zu 4 Pa erreichen kann, so dass auch die empfindlichsten Probenmaterialien abgebildet werden können. Es ist auch mit einem Sekundärelektronendetektor (SE) mit einem zusätzlichen rückgestreuten Elektronendetektor (BSE) ausgestattet, um sowohl hochauflösende topographische Informationen als auch kompositorische Informationen auf der Nanoskala zu erfassen. Zusätzlich zu den beiden Detektoren verfügt JSM T300 über mehrere weitere Funktionen, die es zu einer idealen Wahl für fortgeschrittene Bildgebung machen. Es hat eine schnelle 5-Achsen-motorisierte Bühne mit X-, Y-, Z-, Rz- und Rn-Bewegungsfähigkeiten und eine große 294mm mal 325mm-Probenkammer. Es hat auch einen fortgeschrittenen geladenen Teilchenstrahl (CPB) Entferner und eine Bühnenplattform mit schwingungsarmer Funktion. Mit diesen Funktionen kann JEOL JSM T300 eine wiederholbare Bildgebung und Analyse auf extrem genauen Ebenen durchführen. JSM T300 bietet eine breite Palette von innovativen Funktionen, die entwickelt wurden, um seine Leistung zu verbessern. Es umfasst ein Energy Dispersive X-Ray Analysis (EDAX) -System, eine Dual-Beam-Autofokus-Einheit, eine Autotilting-Stufe, eine Low-Vibration-Stage-Plattform und eine defokussierte Laserstrahl (DLB) -Maschine, um kontrastreiche Bilder zu erzeugen. Es hat auch eine hochauflösende Kamera mit einer maximalen Auflösung von 12 Megapixeln, um hochwertige Bilder bis zu 50.000x Vergrößerung aufzunehmen. Insgesamt ist JEOL JSM T300 ein fortschrittliches, leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskopiewerkzeug, das für Forscher entwickelt wurde, die höchste Bildgebungs- und Analysewerte benötigen. Seine Vielzahl an Merkmalen, seine hohe Probenkammerkapazität und seine variable Druckkammer ermöglichen es Forschern, nanoskalige Materialien mit höchster Präzision und Genauigkeit abzubilden und zu analysieren.