Gebraucht JEOL JSM T300 #9252204 zu verkaufen

ID: 9252204
Scanning Electron Microscope (SEM) Secondary electron detector for imaging Image resolution: 200 nm at 50,000x magnification Operating voltage: 5 kV to 30 kV.
JEOL JSM T300 ist ein Tischplatten-Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Bildungs- und Forschungsanwendungen. Es ist mit einer ultrahohen Auflösung und dreidimensionalen Bildaufnahmefähigkeit ausgestattet, so dass Benutzer Proben im Detail studieren können. Mittels JSM- T300 werden Proben auf den Probenhalter gelegt und anschließend mit dem Elektronenstrahl abgetastet. Während der Elektronenstrahl die Probenoberfläche abtastet, interagieren die Elektronen mit der Probe, wodurch unterschiedliche Signale erzeugt werden. Diese Signale werden dann gemessen und analysiert, so dass Benutzer 3D-Bilder der Probe in hoher Auflösung erhalten. Der in JEOL JSM T300 verwendete Elektronenstrahl wird mit Astigmatismusspulen erzeugt. Diese Spulen erzeugen eine Elektronenkanone mit weiträumigem Elektronenstrom und reduzierter Vergrößerung bei hohen Energien. Dieser Strahl ermöglicht es dem Anwender, bei niedrigen Vergrößerungen hochauflösende Bilder zu erhalten und gleichzeitig eine Vielzahl von Vergrößerungen und Feldtiefen zu ermöglichen. JSM T300 verwendet auch einen Everhart-Thornley-Detektor zum Nachweis von SE (Sekundärelektronen) und BE (rückgestreute Elektronen). Dieser Detektor bietet eine hohe Empfindlichkeit, so dass der Anwender die Oberflächentopographie und die elementaren Zusammensetzungen der Probe genau bestimmen kann. Darüber hinaus kann JEOL JSM T300 mit einer Reihe optionaler Zubehörteile wie EDS (Energy Dispersive Spectrometer) und einem In-Lens SE-Detektor ausgestattet werden. Dieses Zubehör ermöglicht es Benutzern, die bildgebenden Funktionen von JSM- T300 weiter zu verbessern, so dass sie erweiterte Analysen von Proben durchführen und Einblicke in die Probenzusammensetzung erhalten können. JEOL JSM T300 ist in der Lage, in einer Vielzahl von Vakuumstufen zu arbeiten, von < 10-7mbar bis > 10-4mbar. Dies ermöglicht es Benutzern, mit einer Vielzahl von Proben zu arbeiten, einschließlich solcher mit geringer thermodynamischer Stabilität. JSM T300 verfügt auch über eine einfach zu bedienende Computerschnittstelle, die die Bedienung des Instruments vereinfacht und eine schnelle und effiziente Erfassung von Bildern ermöglicht. JEOL JSM T300 ist ein ideales Instrument für eine Vielzahl von Anwendungen, von biologischen und materialwissenschaftlichen Studien bis hin zu täglichen Aufgabeninspektionen. Mit seinen fortschrittlichen bildgebenden Funktionen und einer Vielzahl von optionalem Zubehör bietet JSM T300 Anwendern ein zuverlässiges und effizientes Werkzeug, um präzise und detaillierte Bilder von Proben zu erhalten.
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