Gebraucht JEOL JSM T330A #116691 zu verkaufen
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ID: 116691
Scanning Electron Microscope with Tracor Northern Z-Max 30 Series TN5502N EDS System
Resolution: 5nm (SEI, 30kV, WD=10nm)
Magnification:
LGS 15x (WD=48mm) -200,000x
SGZ 35x (WD=38mm)-200,000x
Accelerating voltage: 0.5-30Kv
Cooling water: 2L per minute
Power requirement: 100VAC 1Phase 50/60Hz, 2kVA
Constant Current: 20A, Starting Current: 60A
Tracor Northern Z-Max 30 Series TN-5502N EDS system specifications:
Z-Max 30 Series Model: 98-629I3/54S
Controller Model: TN-5502N Assy.:700P117748
Laboratory Resolution: 148.6
Laboratory Peak/BKGD.: 889
Bias Voltage: -400V
Heater Voltage: 10.0
Controller Power Requirement: 115VAC 12A or 230VAC 7A.
JEOL JSM T330A ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das einen Elektronenstrahl zur Analyse der Oberfläche einer Probe verwendet. Seine Eigenschaften ermöglichen eine hochauflösende Bildgebung und dreidimensionale Bildgebung für eine Vielzahl von Proben. JSM T330A arbeitet auf einer 15kV Elektronenquelle und hat eine maximale Auflösung von 0,3 Nanometern, so dass die höchste Auflösung Abbildung von kleinen Proben oder Flächen. Zusätzlich verwendet es einen motorisierten Bühnensensor und eine Photomultiplier-Röhre, um digitale Bilder der Probe zu erfassen, die Echtzeitmessung und genaue Probenanalyse ermöglichen. Der motorisierte Bühnensensor kann auch mit bestimmten Operationen programmiert werden, was einen automatischen Betrieb der Abtastung und der Probenausrichtung ermöglicht. JEOL JSM T330A ist aufgrund seines integrierten rückgestreuten Elektronendetektors (BSD) in der Lage, ultrahochauflösende Bilder zu erstellen. Dieses Gerät ist in der Lage, eine Vielzahl von Detektoren zu sammeln und dem Benutzer zur Verfügung zu stellen, um die Probe auf verschiedene Weise zu analysieren. JSM T330A bietet auch eine Reihe von Filtern und Platten, um eine einfachere Analyse sowohl organischer als auch anorganischer Proben zu ermöglichen. JEOL JSM T330A ist mit einem Multielement-AALEN-Detektor ausgestattet; Dieses Merkmal ermöglicht eine verbesserte Abbildung im Atommaßstab und die Identifizierung der in der Probe vorhandenen Elemente. Dieses Merkmal ist äußerst nützlich bei der Untersuchung der energiedispersiven Spektroskopie (EDS) und Röntgenspektroskopie. JSM T330A bietet auch eine Reihe von Orientierungs- und Rotationsmöglichkeiten, die eine Probenmanipulation während der Analyse ermöglichen. Dieses Merkmal eignet sich hervorragend zur Abbildung von dreidimensionalen Proben und Objekten, insbesondere in komplexen Strukturen. Schließlich wird JEOL JSM T330A mit einem eingebauten Gasvakuum- und Ionisationssystem gebaut, das eine Probenverunreinigung verhindert. Dieses System ist äußerst nützlich für Umgebungsscanning und Elektronenmikroskopie und ermöglicht die Analyse von Proben in Echtzeit. Insgesamt ist JSM T330A ein äußerst nützliches Rasterelektronenmikroskop, das eine hochauflösende Bildgebung und vollständige Probenanalyse bietet. Seine Eigenschaften ermöglichen den automatischen Betrieb von Scannen und Probenausrichtung sowie die Echtzeitanalyse sowohl organischer als auch anorganischer Proben. Darüber hinaus ist das eingebaute Gasvakuum- und Ionisationssystem äußerst hilfreich, um die Probe unverseucht zu halten und ermöglicht die Analyse komplexer Proben in Echtzeit.
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