Gebraucht JEOL JSM T330A #9003668 zu verkaufen

JEOL JSM T330A
ID: 9003668
Scanning electron microscope.
JEOL JSM T330A ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur hochauflösenden Bildgebung und Analyse von Materialien verwendet wird. Es verwendet einen hochfokussierten Elektronenstrahl, um die Oberfläche einer Probe zu scannen und detaillierte Informationen zu sammeln. Das Mikroskop ist mit einer Vielzahl fortschrittlicher Funktionen und Komponenten ausgestattet und ist somit ein vielseitiges Analysewerkzeug für eine breite Palette von industriellen, biologischen und medizinischen Anwendungen. Das Mikroskop basiert auf einem fortschrittlichen X-Y-Z Scanner, der eine präzise Bewegungssteuerung und Probenpositionierung ermöglicht. Es verfügt auch über eine großflächige automatisierte Probenahmestufe für eine erhöhte Probenflächenabdeckung. Das Mikroskop nutzt eine 20 bis 30 kV-Elektronensäule mit einem Beschleunigungsspannungsbereich von 0,1 und 30 kV. Es verfügt auch über einen Festkörper-Rückstreudetektor, der eine breite Palette von Analysetypen ermöglicht, einschließlich Backscatter Electron (BSE), Secondary Electron (SE) und Stochastic Assisted Imaging (SAE). Das Mikroskop verfügt ferner über einen Energy Dispersive Spectroscopy (EDS) -Detektor, der eine elementare Analyse von Proben ermöglicht. JSM T330A hat eine Bildauflösung von 1 bis 5 nm und einen Arbeitsabstand von 150mm. Es ist mit einer Umwelt-/Vakuumkammer ausgestattet, die sowohl im Vakuum als auch im Druckbereich von 4 x 10-6 bis 3 x 10-3 Torr betrieben werden kann. Auf diese Weise können verschiedenste Probensubstrate untersucht werden. Die Kammer enthält auch einen Stufenrampentemperaturregler für Arbeiten bei Temperaturen von -128 bis 250oC. JEOL JSM T330A verfügt über eine bequeme Benutzeroberfläche, die eine einfache Probenbehandlung ermöglicht. Es bietet eine Vielzahl von Bildgebungs-, Analyse- und Automatisierungssteuerungsoptionen für maximale Flexibilität. Es ist eine Allzweckplattform, die sich gut für ein breites Spektrum von Bereichen eignet, darunter Materialwissenschaft, Elektronik und medizinische Forschung. Es eignet sich besonders für die Analyse fortschrittlicher Materialien mit komplexen Merkmalen.
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