Gebraucht JEOL JWS 2000 #293621661 zu verkaufen

JEOL JWS 2000 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für fortgeschrittene Bildgebung und Analyse. Es ist ein bildgebendes Werkzeug, das die Leistung eines SEM mit den neuesten Technologien kombiniert, um hochauflösende Bilder von Nanoinformationen zu liefern. Damit ist die JWS 2000 ein ideales Instrument zur Charakterisierung der Eigenschaften von Materialien von Oberflächen bis zur Submikronebene. JEOL JWS 2000 ist mit einer Feldemissionsquelle zur präzisen Bildgebung ausgestattet. Diese liefert eine hohe Auflösung, gepaart mit niedriger Beschleunigungsspannung und geringem Rauschen. Mit den neuesten geräuscharmen Detektoren wird die hohe Auflösung weiter verbessert, so dass selbst kleinste Funktionen präzise erkannt werden können. JWS 2000 verfügt auch über eine große Arbeitskammer und einen großen Spannungsbereich, so dass Benutzer große Proben sondieren können, ohne auf Auflösung zu verzichten. JEOL JWS 2000 führt sowohl bildgebende als auch analytische Anwendungen auf einer Plattform durch. Es ist mit einer Reihe fortschrittlicher Analysewerkzeuge ausgestattet, darunter energiedispersive Röntgen- (EDX) -Spektroskopie, rückgestreute Elektronen (BSE) -Bildgebung und Kathodolumineszenz (CL). EDX liefert Informationen zur elementaren und chemischen Zusammensetzung, während der BSE-Detektor und CL eine Abbildung der Materialeigenschaften sowohl von der Oberfläche als auch von der Unteroberfläche der Probe ermöglicht. JWS 2000 bietet auch eine Reihe von Bildmetriken, wie Kontrast, Seitenverhältnis und Linienbreite. JEOL JWS 2000 bietet eine Reihe automatisierter Funktionen für mehr Benutzerfreundlichkeit. Es verfügt über ein automatisches Ausrichtungssystem zur präzisen Strahlplatzierung, einen automatisierten Probenwechsler zur schnellen Verarbeitung mehrerer Proben und automatisierte Steig- und Neigungssteuerung für genaue Bilderfassung und -analyse. Darüber hinaus unterstützt JWS 2000 den Remote-Zugriff sowohl über einen Client/Server als auch über eine Weboberfläche. Auf diese Weise können Anwender das SEM von überall auf der Welt aus betreiben. JEOL JWS 2000 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Bildgebung und Analyse von nanoskaligen Materialien und Strukturen. Seine Feldemissionsquelle, fortschrittliche Detektoren und sein breiter Spannungsbereich ermöglichen eine präzise Bildgebung, während seine Palette an Analysewerkzeugen, automatisierten Funktionen und Fernzugriff eine einfache Bedienung und maximale Kontrolle bieten. JWS 2000 ist das ideale Instrument zur nanoskaligen Charakterisierung von Materialien und Oberflächen.