Gebraucht JEOL JWS 7500 #9130302 zu verkaufen

JEOL JWS 7500 ist ein hochpräzises Rasterelektronenmikroskop (SEM), das die Betrachtung und Charakterisierung von hochdetaillierten Bildern mikroskopischer Proben bis auf das Niveau einzelner Atome ermöglicht. Das Instrument verwendet einen niederenergetischen Elektronenstrahl, um die Oberfläche der Probe schnell zu scannen und komplexe dreidimensionale Merkmale im äußersten Detail aufzudecken. Das Ergebnis ist eine sehr detaillierte, dreidimensionale Karte der Probenoberfläche, die einzigartige Merkmale aufweist, die unter einem Lichtmikroskop nicht sichtbar sind. JWS 7500 bietet eine breite Palette von bildgebenden und detektierbaren Optionen, um die Bedürfnisse von Forschern in einer Vielzahl von Bereichen zu erfüllen. Dazu gehören hochauflösende bildgebende und elementare Analysefähigkeiten, die es Wissenschaftlern ermöglichen, die chemische Zusammensetzung von Proben zu bestimmen, sowie nanoskalige bildgebende und analytische Fähigkeiten, so dass Forscher hochpräzise Messungen auf der Ebene der einzelnen Atome durchführen können. Die Ausrüstung basiert auf einer großen, hochpräzisen Cs-korrigierten Rasterelektronensäule, die in der Lage ist, hochdetaillierte Bilder bei Auflösungen bis zu 0,35 nm zu erzeugen. Die Säule ist für die Bildgebung und Analyse von Proben von mäßiger bis sehr großer Größe optimiert und verfügt über eine Reihe fortgeschrittener Probenmanipulationswerkzeuge, einschließlich eines offenen Sputterbeschichtungssystems (SCS), das zum Beschichten fragiler Proben nützlich ist, um sie vor Elektronenstrahlschäden zu schützen. JEOL JWS 7500 ist auch in der Lage, Materialien mit hohem Aspektverhältnis wie Kohlenstoff- und Graphenbleche abzubilden und zu analysieren sowie einige Rastermikroskopieexperimente (SAM) zur Abbildung von ultradünnem Silizium und anderen spröden Materialien durchzuführen. Zu den weiteren Merkmalen gehören eine detektorwinkelverstellbare Einheit zur Optimierung der Abbildungsbedingungen, erweiterte Neigungskorrekturfähigkeit, eine Ablenksteuerungsmaschine und eine Vielzahl weiterer Funktionen. JWS 7500 ist eine ausgezeichnete Wahl für Forscher und Wissenschaftler, die ein Hochleistungs-SEM für die Bildgebung und Analyse von Proben bis hin zum Niveau einzelner Atome benötigen. Das Werkzeug ist in der Lage, extrem detaillierte 3-dimensionale Bilder von Probenoberflächen zu erzeugen, so dass Forscher Proben auch auf nanoskaligen Ebenen genau charakterisieren können. Darüber hinaus bietet das Asset eine Reihe von erweiterten Bildgebungs- und Analyseoptionen, um die Bedürfnisse von Anwendern in einer Vielzahl von Bereichen zu erfüllen, was es zu einem wertvollen und vielseitigen Werkzeug für den Einsatz in Forschung und Industrie macht.