Gebraucht JEOL JWS 7505 #293594310 zu verkaufen

JEOL JWS 7505 Scanning Electron Microscope (SEM) hat eine Auflösung von 3,2 Nanometern und eine hohe Leistung im Vergleich zu anderen SEMs. Es verfügt über eine erweiterte Field Emission Gun (FEG) mit einer vergrößerten Kammer, einer Strahlteilerstruktur und einem In-Column-Energiefilter. Dadurch erhält der Benutzer eine höhere Vergrößerung und eine höhere Schärfentiefe, was zu einem höheren Detailgrad für ein Bild führt. JEOL JWS-7505 bietet auch eine breite Palette von Beobachtungsmodi und Fähigkeiten, wie Rastertunnelmikroskopie (STM) sowie in-situ Manipulation und Analyse von Proben mit verbesserten Betriebsfähigkeiten. Das ausgestattete Detektorsystem ist so konfiguriert, dass es eine schnellere Bildauflösung, verbesserte Bildtreue und Genauigkeit, eine verbesserte 3D-Bildgebung und eine In-situ-Probenmanipulation bietet und gleichzeitig die Kammerumgebung optimiert. JWS 7505 verfügt auch über eine schnelle Mustersuche und Nähfunktion, die eine schnellere Bildaufnahme und Aufnahmen höherer Auflösung ermöglicht. Die Abbildungsmodi von JWS-7505 umfassen sekundäre Elektronenbildgebung, rückgestreute Elektronenbildgebung und Kathodolumineszenzbildgebung. Es ist auch mit einer Vielzahl von Detektoren für die Bildgebung ausgestattet, einschließlich eines Szintillator-Detektors für die In-situ-Analyse sowie eines energiedispersiven Spektrometers, eines elektronenrückgestreuten Beugungsdetektors (EBSD) und eines winkelaufgelösten Energiefilters für die Zusammensetzungsanalyse. Darüber hinaus verfügt JEOL JWS 7505 über eine Probenstufe mit automatisierter Beobachtung und Probendrehung. Es verfügt auch über eine digitale Bildeinspeisung mit einer Hochgeschwindigkeitsübertragung, die eine Echtzeitbeobachtung und -analyse ermöglicht. JEOL JWS-7505 ist optimal für den Betrieb in einer Reinraumumgebung konzipiert, kann also unter staubfreien oder anderen Schadstoffen eingesetzt werden. JWS 7505 bietet Anwendern eine zuverlässige und einfach zu bedienende Plattform für die Rasterelektronenmikroskopie. Seine hochauflösende, schnelle Bildgebung und intuitive Benutzeroberfläche machen es zu einem idealen Werkzeug für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen. Seine kostengünstige Einstiegsoption, gepaart mit seiner hervorragenden Leistung, machen es zu einer guten Wahl für die Rasterelektronenmikroskopie.