Gebraucht JEOL JWS 7505 #9000172 zu verkaufen

JEOL JWS 7505 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für hochauflösende Bildgebung und Analyse entwickelt wurde. Es verfügt über eine Feldemissionskanone (FEG) mit einer Beschleunigungsspannung von bis zu 30 kV und einem großen Arbeitsabstand von 170 mm. Außerdem ist die Probenkammer mit einem 4-Achsen-Scanner und einem Stufenkippregler ausgestattet. Das Detektorsystem besteht aus einem rückgestreuten Elektronendetektor (BSE), einem Röntgendetektor (EDX) und einem sekundären Elektronendetektor (SE). Der BSE-Detektor hat eine hohe Auflösung von 8 nm, eine aktive Fläche von 15 x 15 mm und eine Winkelannahme von 15 Grad. Das EDX-System hat eine spektrale Auflösung von 300eV und eine maximale Beschleunigungsspannung von 15 keV. Der SE-Detektor hat eine hohe Auflösung von 8 nm. JEOL JWS-7505 ist in der Lage, kontrastreiche Bilder und 3D-Oberflächenprofile sowohl in seitlicher als auch in vertikaler Richtung zu erzeugen. Das SEM verfügt außerdem über eine automatische Ausrichtungsfunktion, die die Genauigkeit der Bilder und Messungen gewährleistet. Die einzigartige Kombination aus hochauflösenden Bildgebungs- und Analysewerkzeugen macht JWS 7505 zu einem idealen Werkzeug für Forschung, Entwicklung und Produktion in den Bereichen Werkstoffwissenschaft und Engineering. Mit seinen hochauflösenden Bildern und Vergrößerungsmöglichkeiten kann JWS-7505 verwendet werden, um die Struktur und Zusammensetzung von Materialien mit erstaunlichen Details zu analysieren. Es kann auch verwendet werden, um die Oberflächentopographie von Materialien zu untersuchen, einschließlich Partikeln und Mikrostrukturen. Die Bildanalyse- und Quantifizierungsmöglichkeiten von JEOL JWS 7505 ermöglichen eine detaillierte Charakterisierung von Materialien und Oberflächen und ermöglichen ein besseres Verständnis ihrer Eigenschaften. Darüber hinaus umfasst JEOL JWS-7505 optionale EDS- und EBSD-Systeme zur weiteren Elementaranalyse. Zusammenfassend ist JWS 7505 SEM ein leistungsfähiges und vielseitiges Werkzeug zur hochauflösenden Bildgebung und Analyse von Materialien und Strukturen. Mit seiner Vielzahl von Funktionen und Fähigkeiten ist JWS-7505 gut für Forschung, Entwicklung und Produktion in vielen verschiedenen Branchen geeignet.