Gebraucht JEOL JWS 7505 #9131751 zu verkaufen

JEOL JWS 7505 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das einen fokussierten Elektronenstrahl verwendet, um hochauflösende Bilder der Oberflächen- oder Untergrundstruktur einer Probe zu erzeugen. Die 7505 ist mit einer hochauflösenden Feldemissionskanone (FEG) ausgestattet, die Vorbeschleunigungsspannung reduziert und sekundäre Emissionen für eine optimierte Bildgebung erhöht. Darüber hinaus kann die 7505 verwendet werden, um 3D-Rekonstruktionen zu erstellen, indem mehrere SEM-Bildscheiben erfasst werden, wodurch die Genauigkeit quantitativer Messungen und die Bildgebung schwer zu bildender Proben erhöht wird. Das SEM enthält auch ein modernes Softwarepaket, mit dem Anwender alle Funktionen des Mikroskops steuern können, z. B. Arbeitsabstandseinstellung und Fokuskondensatorlinsen, sowie automatisierte Funktionen programmieren können. Die 7505 unterstützt auch die Bilderfassung und -analyse, einschließlich schneller Bilderfassungen und automatisierter Messungen, um Parameter wie Beschleunigungsspannung und Betriebsstrom für eine genauere Bildgebung schnell zu bestimmen. Die 7505 ist mit einer 5-Achsen-Motorstufe ausgestattet, die aus 3 linearen Achsen (X, Y, Z) und 2 Drehachsen (Neigung und Drehung) besteht. Die Drehachse kann zur Erzeugung von Multi-Parameter Imaging (MPI) -Bildern verwendet werden, und die Neigungsachse ermöglicht eine präzise Steuerung von einfallenden Winkeln. Die Stufe bietet auch ein aktives Temperaturregelsystem für Proben, die stabile Temperaturen erfordern. Der 7505 ist auch mit einer Reihe von bildgebenden Detektoren ausgestattet, die kontrastreiche Bilder von Proben liefern. Diese Detektoren detektieren rückgestreute Elektronen, Sekundärelektronen, reflektierte Elektronen und deren Legierungen sowie Rückstreusignale. Zusätzlich können die Detektoren sowohl chemische als auch physikalische Informationen von der Probe aufnehmen, um ein klareres Bild zu liefern. Der 7505 enthält außerdem einen optionalen Kombinationsdetektor, der sowohl Sekundärelektronen als auch rückgestreute Elektronen gleichzeitig detektieren kann. Schließlich bietet die 7505 eine Reihe weiterer Merkmale, wie eine 60 ° Neigung für Hochwinkelbildgebung und variable Drucklinsen, um Bilder in variablen Druckumgebungen ohne Verzerrung zu erhalten. Der 7505 bietet auch ein breites Sichtfeld, das eine größere Probenanalyse ermöglicht, und seine energiedispersive Spektroskopie (EDS) ermöglicht neben der Bildgebung auch die Elementaranalyse. Diese Kombination von Funktionen macht JEOL JWS-7505 zu einem leistungsstarken und vielseitigen Werkzeug für Bildgebung und Analyse.