Gebraucht JEOL JWS 7505 #9196807 zu verkaufen

JEOL JWS 7505 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein komplexes bildgebendes Instrument, das Elektronen verwendet, um hochauflösende, dreidimensionale Bilder einer Vielzahl von Probentypen zu erzeugen. Das 7505 SEM ist bestrebt, die Bildgebung, Charakterisierung und Materialanalyse im Nanoskalibereich zu revolutionieren. Dieses innovative SEM ist für Präzisionsbilder in einer Vielzahl von Bedingungen konzipiert und kann eine breite Palette von Probengrößen von klein bis extra groß aufnehmen. Die 7505 verfügt über eine einzigartige digitale Elektronensäule, servokontrollierte Elektronenkanone und aberrationskorrigierte Hochleistungspolepieces, um eine verbesserte Leistung zu gewährleisten. Diese Funktionen verbessern die Auflösung, um eine Bildauflösung von 0,81 nm zu erreichen. Darüber hinaus ist der 7505 mit einer Hochleistungsquelle ausgestattet und kann bis zu 6 Detektoren bedienen. Das eingebaute Energiefiltersystem eliminiert alle gewünschten Elemente aus den Bildern, was eine verbesserte Übersichtlichkeit ermöglicht. Das integrierte digitale Vergrößerungssystem bietet Platz für jede Art von Probe und bietet einen Bereich von 7,5 bis 8000 x. Mit neuen und bahnbrechenden Technologien bietet die 7505 weiterhin überlegene Bildgebung und optimale Auflösung mit verbesserter Verzerrungsregelung und höchsten Signal- zu Rausch- und Kontrastverhältnissen. Der 7505 bietet auch automatisierte Funktionen zur Verbesserung des Workflows. Eine leistungsstarke Musteranpassungsfunktion verknüpft die gewonnenen Informationen mit entsprechenden Spektren und hilft Benutzern, ihre Daten genauer zu interpretieren. Ebenfalls enthalten ist der Focus-Hunt-Modus, mit dem Benutzer schwer fokussierbare Proben durch horizontale und vertikale Einstellung der Probenphase erfassen können. Schließlich enthält die 7505 die revolutionäre TSP™ (Time Stack Processing), die es Forschern ermöglicht, 3D-Bilder direkt aus den gesammelten SEM-Bildern zu erhalten. Dadurch entfallen STM- oder AFM-Systeme und die Forscher erhalten eine All-in-One-Plattform für nanoskalige Bildgebung und Charakterisierung. Insgesamt ist JEOL 7505 Scanning Electron Microscope ein fortschrittliches Bildgebungswerkzeug, das hochwertige Bilder mit verbesserter Auflösung und Kontrast sowie effizienteren Workflow und automatisierten Funktionen bietet. Mit Hilfe der 7505 können Forscher einige der schwierigsten bildgebenden Arbeiten problemlos vertrauensvoll angehen.