Gebraucht JEOL JWS 7505 #9278048 zu verkaufen
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ID: 9278048
Scanning Electron Microscope (SEM), parts system
HP Series 700i PA-Risc computer
(6) THERMO NORAN X-Ray spectrometers
With C10018 Micro-analysis system
Control console
Power supply cabinet
Manual included
Power supply: 200 V, 40 A, 8 kVA, 3 Phase, 50/60 Hz.
JEOL JWS 7505 ist eine Spitze der Linienabtastung des Elektronmikroskops (SEM). Mit seiner hohen Auflösung, Kompatibilität mit einer Vielzahl von Mustertypen und erweiterten bildgebenden Funktionen ist es das ideale Instrument für viele Industrie- und Forschungsanwendungen. In Bezug auf die physikalische Zusammensetzung verfügt das Basismodell JEOL JWS-7505 über eine ultra-stabilitätskonzipierte SEM-Säule mit variablem Druck, eine hochauflösende Elektronenquelle für die Kaltfeldemission, einen 5-Positionen-Probenwechsler und eine 9-Zoll-Elektronenquelle der Generation 2. Darüber hinaus ist das Modell mit Ultraweitfeldtechnologie, modularen Ionendetektoreinheiten und einer hochstabilen Magnetfeldplatte für die elektronenoptische Positionierung ausgestattet. Im Hinblick auf analytische Fähigkeiten ist JWS 7505 in der Lage, hochauflösende und kontrastreiche Bildgebung und Spektroskopie, wie Energiedispersive Spektroskopie (EDS), Elektronenrückstreuung (EBSD) und Wellenlängendispersive Spektroskopie (WDS). Ebenso ist es in der Lage, analytische Funktionen wie automatisierte Bildgebung, automatisiertes elementares Mapping, automatisierte Messung und automatisierte Post-Process-Datenextraktion zu analysieren. Darüber hinaus ist JWS-7505 in Bezug auf die Probenvorbereitung in der Lage, verschiedene herkömmliche Probenvorbereitungstechniken wie Vakuum-Montage, konventionelle Vakuumbeschichtung und Cryo-Fraktur co-fokussierte Ionenstrahlschneiden. Der Elektronenstrahl selbst kann in einer Breite von bis zu 1000 µm variiert werden. Darüber hinaus gibt es verschiedene Zubehörteile, die seine Probenvorbereitungsfähigkeiten erweitern, wie eine flüssige stickstofftemperaturgeregelte Ätzstufe, eine Zweisäulen-Vakuumabzugshaube und eine Handschuhbox und eine präzise Mikropositionierstufe. Alles in allem ist JEOL JWS 7505 ein unglaublich anspruchsvolles Rasterelektronenmikroskop, das in der Lage ist, vielen Industrie- und Forschungsanwendungen qualitativ hochwertige Ergebnisse zu liefern. Seine Kombination aus physikalischer Zusammensetzung, analytischen Fähigkeiten und Probenvorbereitungsfunktionen machen es zu einem der begehrtesten SEMs, die auf dem Markt verfügbar sind.
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