Gebraucht JEOL JWS 7515 #136964 zu verkaufen

Das JEOL JWS 7515 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist der ideale Analysator für die hochauflösende Beobachtung und Analyse unterschiedlichster Materialien. Das Instrument verwendet eine Feldemissionselektronenquelle, um eine Probe mit extrem hoher Auflösung, typischerweise unter 150 nm und einer Schärfentiefe von etwa 4,5 µm, abzutasten. Der Hochleistungs-Sekundärelektronendetektor in der Linse bietet die höchstmöglichen Sekundärelektronenbilder und die Möglichkeit, einen In-Linsen-Rückstreuelektronendetektor für die grobe Oberflächentopographie und die Zusammensetzungskartierung zu verwenden. Der in-column BSE-Detektor erzeugt auch höhere Signal-Rausch-Verhältnisbilder als STEM/BF-Detektoren und ist hinsichtlich der Oberflächendetailsammlung unübertroffen. Darüber hinaus verfügt JEOL SEM auch über eine hochpräzise Mehrpositionsstufe, um verschiedene Bereiche einer Probe automatisch zu vergleichen, während zwei separate Fenster - eines für die Probe und eines für den Bildschirm - die Beobachtung und Kontrolle der Bildgebung erleichtern. JEOL JWS-7515 ist kompatibel mit einer Vielzahl von Optionen, einschließlich digitaler Bildaufnahme (DIC) mit einer Farbvideokamera, Echtzeit-Videoverarbeitung, digitaler Zeilenabtastung, 3D-Analyse und Auflösungseinstellungen, EDS (Energy-dispersive Röntgenspektrometrie), Kathodolumineszenz (cl) und EBIC IC IC. Mit all diesen Optionen ist JWS 7515 sehr vielseitig und in der Lage, eine Vielzahl von Materialien abzubilden, von Halbleitern bis hin zu metallurgischen Proben. JEOL SEM verfügt über eine sehr benutzerfreundliche Schnittstelle, die einen schnelleren Austausch und Spektrumserfassung sowie die Echtzeit-Datenerfassung und -speicherung, eine schnellere Fernbedienung des Instruments und eine große Bibliothek mit werkseitigen Standardeinstellungen ermöglicht, um den Betrieb des Instruments zu erleichtern. Auch der Mikrocomputer, der das Instrument steuert, hält immer die optimale Leistung, während JEOL SOFTWARE 2.0-Software es Benutzern ermöglicht, die Instrumenteneinstellungen zu speichern und wiederzuverwenden, Bildüberlagerungen durchzuführen und die Videoeinstellungen nach Wunsch zu ändern. JWS-7515 ist ein leistungsstarkes SEM, das den Anforderungen fortschrittlicher Laboranalysen gerecht wird. Es bietet ausgezeichnete Auflösung, hohe Leistung und modernste Funktionen, die es ermöglichen, beispiellose bildgebende Ergebnisse einer breiten Palette von Materialien zu liefern.