Gebraucht JEOL JWS 7515 #169153 zu verkaufen

JEOL JWS 7515
ID: 169153
Scanning electron microscopes.
JEOL JWS 7515 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das modernste Technologie verwendet, um eine hohe Qualität und Präzisionsbildauflösung zu bieten. Es verfügt über ein einzigartiges Gerätedesign, das ein hohes Maß an Flexibilität sowie eine breite Palette an analytischen Daten bietet. Mit diesem Instrument ist es möglich, eine Vielzahl von überlegenen Bildern sowohl in großen als auch in kleinen Anwendungen zu erzeugen. Seine Anwender können eine hohe analytische Leistung und Genauigkeit erreichen, insbesondere in Anwendungen, die eine sehr feine Auflösung der Bildgebung erfordern. JEOL JWS-7515 ist eine ausgezeichnete Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen. Seine bemerkenswerteste Funktion ist sein fortschrittlicher Elektronenstrahl und optisches System, das eine Reihe von Optionen für hochauflösende Bildgebung bietet. Das Instrument ist mit einer automatisierten digitalen Bildaufnahmeeinheit für eine überlegene Bildauflösung ausgestattet. Es verfügt über eine Niederspannungs-Pistole, die bis zu 40kV produzieren kann, sowie einen hochintensiven Beleuchter, der es Benutzern ermöglicht, energiedispersive Röntgenbilder mit einer sehr feinen Auflösung zu erfassen. JWS 7515 verfügt auch über eine Vielzahl von analytischen Funktionen, mit einer Reihe von bis zu 10,000X Vergrößerung. Das Gerät ist mit einer automatisierten Probenstufe ausgestattet, mit der Benutzer Daten schnell scannen und speichern können. Darüber hinaus verfügt es über eine hochpräzise Tiefenkontrollmaschine, die präzise tiefengesteuerte Materialanwendungen ermöglicht. Darüber hinaus ist das Instrument in der Lage, stereo- oder dreidimensionale Abbildungen von Proben zu erzeugen. JWS-7515 ist eine ausgezeichnete Wahl für verschiedene bildgebende Anforderungen. Es ist mit fortschrittlicher Software ausgestattet, die es Benutzern ermöglicht, auf die verschiedenen Funktionalitäten des Instruments zuzugreifen und den Bilderfassungsprozess zu überwachen. Die Software ist für den zuverlässigen Betrieb des Mikroskops sowie für die Archivierung von Daten ausgelegt. Mit seinen leistungsstarken Fähigkeiten und der präzisen bildgebenden Leistung ist JEOL JWS 7515 ein ideales Rasterelektronenmikroskop für jedes Labor. Seine fortschrittliche Technologie ermöglicht es seinen Benutzern auch, ihre gewünschten Ergebnisse einfach und genau zu erzielen. Seine ausgezeichnete analytische Leistung und Genauigkeit macht es zu einer benutzerfreundlichen Wahl für jeden bildgebenden Bedarf.
Es liegen noch keine Bewertungen vor