Gebraucht JEOL JWS 7515 #293628742 zu verkaufen

JEOL JWS 7515 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das hervorragende bildgebende und analytische Funktionen bietet. Es verwendet eine leistungsstarke kombinierte Feldemissionskanone (CFE) und Niederspannungs-SEM-Säule, um ein hohes Leistungsniveau zu erzielen. Neben den grundlegenden Funktionen des Rasterelektronenmikroskops bietet JEOL JWS-7515 eine Reihe fortschrittlicher Funktionen. Es ist für hochauflösende Bildgebung und hohe Vergrößerungsmöglichkeiten optimiert und verfügt über ein innovatives Spitzentemperaturregelgerät, das einen stabilen Betrieb über eine Vielzahl von Betriebsbedingungen gewährleistet. Das Mikroskop verfügt zudem über ein fortschrittliches Nanostrahlsystem, das ultrahochauflösende Bildgebungs- und Analysefunktionen ermöglicht. JWS 7515 verfügt auch über einen flexiblen Dunkelfelddetektor, der eine qualitativ hochwertige Dunkelfeldbildgebung ermöglicht. Der Detektor ermöglicht extrem niedrige Arbeitsabstände, die eine bessere Probenbeobachtung und -analyse ermöglichen. Darüber hinaus verfügt das Mikroskop über eine vielseitige energiedispersive Spektrometrie (EDS) -Einheit mit hohem Dynamikbereich und spektraler Auflösung, die präzise Elementardaten liefert. JWS-7515 enthält auch eine Reihe von Zubehör, die seine Leistung weiter verbessern. Der 2D-Cryo Probenhalter und die Vakuumaustauschmaschine ermöglichen eine hochauflösende Bildgebung bei niedrigen Temperaturen und das On-the-Fly Scanning Tool sorgt für eine kontinuierliche Bildgebung ohne Unterbrechungen der Abtastrate. JEOL JWS 7515 Rasterelektronenmikroskop bietet überlegene bildgebende und analytische Fähigkeiten aufgrund seiner fortschrittlichen Funktionen. Seine variable Beschleunigungsspannung ermöglicht fein detaillierte Bilder und die integrierte EDS-Anlage liefert eine zuverlässige Elementaranalyse. Es ist ein zuverlässiges Instrument, das einen detaillierten Einblick in eine Reihe von Proben bietet.