Gebraucht JEOL JWS 7515 #293717495 zu verkaufen

JEOL JWS 7515 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einer Wolframfadenquelle für hochauflösende Bildgebung. Es bietet eine Vergrößerung von bis zu 250.000x und hat ein Sichtfeld von 50nm für beeindruckende Abbildungsergebnisse. JEOL JWS-7515 ist mit zwei Kollektoren für rückgestreute Elektronen und Sekundärelektronen ausgestattet und enthält sowohl Röntgen- als auch energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) -Optionen. Das Mikroskop verfügt zudem über eine automatisierte Stacked-Imaging-Fähigkeit, mit der Anwender schnell mehrere bildgebende und spektroskopische Aufgaben gleichzeitig durchführen können. Dies ermöglicht einen höheren Durchsatz und eine tiefere Analyse von Proben. Mit einer 15kV Beschleunigungsspannung kann JWS 7515 isolierende Proben sowie Gleichstrom- (DC) oder Hochfrequenz- (RF) Studien abbilden. Das SEM bietet auch eine Sichtkammer für einfache Probenhandhabung und Positionierung sowie eine monochromatische Bildgebungsoption zur Kontraststeuerung. Das Mikroskop enthält sowohl eine hoch- als auch eine vergrößerungsarme Kamera zur komfortablen Überwachung von Proben. Dies wird durch das JEOL SmartScan Auto-Alignment-System aktiviert, um den Fokus des SEMs während des Bildgebungsprozesses schnell anzupassen. JWS-7515 verfügt über eine Umgebungskammer mit einem Temperaturbereich von -180C bis + 130C, die eine Temperaturmanipulation von Proben ermöglicht. Dies in Kombination mit der 45-Grad-Neigungsstufe ermöglicht die 3D-Abbildung von Proben. Die zugehörige Software verfügt über Low-Dose-Imaging-Funktionen, um die Integrität der Proben sowie viele benutzerfreundliche Steuerungs- und Datenerfassungs- und Management-Tools zu erhalten. JEOL JWS 7515 eignet sich für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen wie mikromechanische Studien, Fehleranalyse, biologische Probencharakterisierung, Oberflächenelementanalyse und vieles mehr. Die Kombination von Funktionen wie hochauflösender Bildgebung und der niedrig dosierten Technologie machen das SEM zu einem idealen Werkzeug für hochwertige Bildgebung und Analyse.