Gebraucht JEOL JWS 7515 #293760157 zu verkaufen

JEOL JWS 7515 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das sich ideal für die Beobachtung und Analyse einer Vielzahl von Proben aus Materialwissenschaften, Physikwissenschaften und Biologie eignet. Das Mikroskop erzeugt mit einer Elektronenkanone einen Elektronenstrahl, der durch eine Fokussierlinse hindurchgeht und auf die Probe gerichtet ist. Ein Abbildungsdetektor erfasst dann die reflektierten Elektronen und erzeugt ein Bild der Probe, in dem einzelne Partikel beobachtet werden können. Auf diese Weise kann das SEM verwendet werden, um detaillierte Bilder der Oberfläche der Probe einschließlich ihrer Morphologie (Form), Elementarzusammensetzung und sogar chemischer Phase zu erhalten. JEOL JWS-7515 verfügt über einen Niederspannungs-SEM-Bereich von 2 bis 15 kV und ist in der Lage, eine maximale Vergrößerung von 100.000x zu erreichen. Es ist mit einer Feldemissionskanone ausgestattet, die die Helligkeit des Strahls erhöht und eine Beobachtung bei höheren Vergrößerungen ermöglicht. Die Bildauflösung dieses Mikroskops ist hervorragend und es ist in der Lage, Bilder mit Subnanometer-Merkmalen und -Merkmalen zu erzeugen, die bis zu 2 µm groß sind. Die Probenkammer der JWS 7515 ist mit einer 4-achsigen Stufe ausgestattet, die verschiedene Probenmontagetypen wie Stiftstummel, Proben auf Dias und Petrischalen unterstützt. Die Neigungsstufe ermöglicht eine Probenmanipulation, wodurch die Probeneigenschaften aus verschiedenen Winkeln beobachtet werden können. Für das SEM stehen eine Vielzahl von Detektoren zur Verfügung, darunter Rückstreudetektoren, energiedispersive Röntgenspektrometer und Sekundärelektronendetektoren. Dies ermöglicht die Bildgebung sowohl im SEM- als auch im Röntgenmodus sowie die eingehende Analyse von Proben. JWS-7515 umfasst auch automatisierte Funktionen wie ein Fokus- und Vergrößerungssteuerungssystem, einen Videoanzeigemonitor und ein Vakuumsystembedienfeld. Das Mikroskop verfügt über eine benutzerfreundliche Bedienoberfläche, die einen einfachen Zugriff auf die verschiedenen Menüfunktionen des SEM ermöglicht. JEOL JWS 7515 bietet auch erweiterte Bildanalysefunktionen, einschließlich Kanten-, Linien- und Kreisdetektion, Helligkeits- und Kontrastfunktionen, Partikelgrößenanalyse und mehr. Abschließend ist JEOL JWS-7515 ein ausgezeichnetes Rasterelektronenmikroskop für den Einsatz in einer Vielzahl von Anwendungen. Es bietet leistungsstarke Vergrößerung und Auflösung, erweiterte Bildgebungsfähigkeit und umfangreiche Analysefunktionen. Sein benutzerfreundliches Steuerungssystem macht es zu einer guten Wahl für jedes Labor.