Gebraucht JEOL JWS 7515 #84046 zu verkaufen

JEOL JWS 7515 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine Magnetfeld-Emissionsquelle und hervorragende Wolfram-Filament für hochauflösende Abbildung bis zu 15 Nanometer verfügt. JEOL JWS-7515 verfügt über ein vielseitiges Gerätedesign mit eingebautem Manipulationsarm zum Probenladen, einem digitalen Flachbildschirm und leistungsstarker integrierter Software zur Bilderfassung und -analyse. JWS 7515 hat eine große Kammergröße von 25 cm mal 25 cm, was eine flexible und zuverlässige Probenbeladung in einer Vielzahl von Anwendungen ermöglicht. Das variable Druckdesign von JWS-7515 ermöglicht es Benutzern, den Arbeitsabstand und den Elektronenstrom zu steuern, was eine höhere Genauigkeit und Auflösung in der Bildgebung ermöglicht. JEOL JWS 7515 ist in der Lage, eine Reihe von Probentopologien abzubilden, um hochauflösende Oberflächen- und Innenmaterialeigenschaften, Elementverteilungen und texturierte oder kristalline Strukturen einzubeziehen. JEOL JWS-7515 verfügt auch über fortschrittliche Technologie, einschließlich der Detektion von rückgestreuten Elektronen, reflektierten Elektronen und Röntgenstrahlen; und hochauflösende Bildgebung. Der Scanner verfügt zudem über eine hochauflösende motorisierte Stufe zur präzisen Steuerung, hochempfindlichen digitalen Displays und vollständigen Automatisierung des Bildgebungsprozesses. JWS 7515 kann für eine leistungsstarke Analyse, Datenverwaltung und automatisierten Betrieb des Systems an PC oder Workstation angeschlossen werden. JWS-7515 können sowohl im unteren als auch im höheren Vakuummodus betrieben werden, um hochgenaue und relevante Ergebnisse für eine Vielzahl von Anwendungen zu erzielen. Es hat eine ultra-hohe Auflösung von 15 Nanometern, und seine Scangeschwindigkeit ist höher als die von den meisten konkurrenzfähigen SEMs bereitgestellt, so dass es eine ideale Wahl für Benutzer, die eine eingehende und genaue Bildgebungseinheit benötigen. Zusätzlich kann JEOL JWS 7515 programmiert werden, um die Bildeinstellungen automatisch entsprechend der gewünschten Anwendung zu optimieren. Insgesamt ist JEOL JWS-7515 ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop, das dem Anwender Flexibilität und Kontrolle der Bildgebung bietet. Es eignet sich gut für Anwendungen mit nanoskaliger Bildgebung und exakter Auflösung und verfügt über automatisierte Bildgebungsfunktionen mit hoher Genauigkeit. Seine große Kammergröße und Vielseitigkeit bieten Anwendern eine zuverlässige Bildverarbeitungsmaschine, um hochauflösende Bilder in einer Vielzahl von Anwendungen zu erzeugen.