Gebraucht JEOL JWS 7515 #9174206 zu verkaufen

JEOL JWS 7515 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein fortschrittliches Werkzeug für Forscher. Dieses SEM bietet eine Vielzahl von Funktionen, um eine breite Palette von Materialoberflächen mit Details und Genauigkeit zu untersuchen. Sein einzigartiges Design ermöglicht eine breite Palette von Anwendungen, von der Inspektion von Materialien bis hin zu nanotubulären Studien. JEOL JWS-7515 verfügt über eine fortschrittliche Feldemissionskanone (FEG) für hochauflösende Bildgebung. Seine maximale Beschleunigungsspannung von 5kV ermöglicht eine hochauflösende Abbildung bei hohen Vergrößerungen. Das Gerät ist mit einer großen, aktiv stabilisierten Kammer ausgestattet, die die Bewegung von Proben bis zu 80mm Durchmesser ermöglicht. Darüber hinaus verfügt das SEM über einen leistungsstarken Post-Column Energy Filter (PCEF), der eine genaue Elementidentifizierung ermöglicht. Neben der hochauflösenden Bildgebungsfähigkeit verfügt JWS 7515 über eine Vielzahl benutzerfreundlicher Funktionen. Es verfügt über benutzerfreundliche Software mit automatisierten Sammlungen und automatisierter Datenanalyse. Darüber hinaus bietet das System eine automatisierte Driftkorrektur mit dem FEG für verbesserte Bildstabilität und Wiederholbarkeit. JWS-7515 verfügt über eine robuste automatisierte Probenstufe mit einem breiten Probenprogramm. Es ist in der Lage, nichtleitende Proben mit seiner integrierten Elektronenkanone mit variablem Druck abzubilden. Darüber hinaus unterstützt das Gerät mehrere Detektoren zum Sammeln von Daten aus mehreren Winkeln. Das Gerät bietet auch eine Hochleistungs-Probenvorbereitungsstation mit drei Säulen für einfaches Probenladen. JEOL JWS 7515 hat auch eine einzigartige Neigungssteuerung, die einstellbare Neigungswinkel ermöglicht. Dadurch wird sichergestellt, dass die Probe ausreichend dem Elektronenstrahl ausgesetzt ist und Daten auch aus schwer zugänglichen Proben gewonnen werden. Schließlich ist JEOL JWS-7515 durch seine Vorentwicklung äußerst zuverlässig. Es ist mit Funktionen entworfen, um die Probe vor Schäden durch Elektronenbestrahlung zu schützen. Darüber hinaus ist das SEM hocheffizient bei der Filterung von Elektronen, was zu einer zuverlässigeren und qualitativ hochwertigeren Datenerfassung führt. Zusammenfassend ist JWS 7515 ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das mit einer Vielzahl von Funktionen und benutzerfreundlicher Software ausgestattet ist. Es ist in der Lage, die Bildgebung bei hoher Auflösung, sowie genaue Element-Identifikation. Darüber hinaus bietet das SEM eine automatisierte Probenvorbereitung und Kippsteuerung sowie Datenanalyse und Driftkorrektur. Es ist ein zuverlässiges und robustes Werkzeug, das ideal für Forscher und Ingenieure ist, die eine detaillierte Bildgebung und Analyse benötigen.