Gebraucht JEOL JWS 7515 #9220978 zu verkaufen

JEOL JWS 7515 Rasterelektronenmikroskop ist ein hochentwickeltes analytisches Werkzeug zur Messung der strukturellen und elementaren Zusammensetzung mit außergewöhnlicher Auflösungskraft. Es verwendet Elektronenstrahlen, die aus einer Wolfram-Elektronen-Pistole erzeugt werden, um sehr detaillierte Bilder von mikroskopischen Objekten zu erhalten. Die hochauflösende bildgebende Fähigkeit dieses Instruments ist wertvoll für ein breites Forschungsspektrum, einschließlich der Analyse von Materialien, biomolekularer Struktur und chemischer Zusammensetzung. JEOL JWS-7515 Rasterelektronenmikroskop zeichnet sich durch eine einzigartige Kombination aus hoher Helligkeit, großem Sichtfeld und hoher Vergrößerung aus. Seine hochenergetische Elektronenstrahlquelle ist in der Lage, Vergrößerungsstufen bis zu 3000x, bietet Präzisionsbildgebung bis zur Nanometerskala. Dieses leistungsstarke Mikroskop verfügt auch über einen großen dynamischen Bereich des Sichtfeldes, so dass ein großer Bereich der Analyse im Detail untersucht werden kann. Darüber hinaus bietet es eine breite Palette fortschrittlicher analytischer Fähigkeiten wie energiedispersive Röntgenspektroskopie, Elektronenrückstreuung, Tiefenprofilierung und chemische Bildgebung. Das Rasterelektronenmikroskop JWS 7515 ist mit einer automatischen Fokussteuerung ausgestattet, die optimale Abbildungsbedingungen gewährleistet. Dieses System kombiniert eine computergesteuerte Fokuseinstellung mit einem Bühnenantriebsregler, der eine präzise und genaue Probenabtastung ermöglicht. Darüber hinaus optimiert eine Kombination aus Objektivlinse und Rückstreudetektorsystemen die bildgebende Qualität für eine Vielzahl von Proben, einschließlich derjenigen aus metallischen Materialien. JWS-7515 Rasterelektronenmikroskop verfügt auch über eine integrierte elementare Analyseeinheit, die eine kompositorische Analyse von Proben mit hoher Genauigkeit ermöglicht. Darüber hinaus kann es verwendet werden, um die Kontaminationswerte in Proben zu analysieren und das Vorhandensein von subtilen Oberflächendefekten zu erkennen. Schließlich verfügt die Maschine auch über eine Vielzahl von Software-Tools, um Bildanalyse und Beispieldokumentation zu erleichtern. Insgesamt ist das JEOL JWS 7515 Rasterelektronenmikroskop ein vielseitiges, zuverlässiges und effizientes Instrument, ideal für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen. Seine beeindruckende Auflösung und seine leistungsstarken analytischen Fähigkeiten bieten unübertroffene Leistung für Forscher auf dem Gebiet.