Gebraucht JEOL JWS 7515 #9249356 zu verkaufen

JEOL JWS 7515 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine präzise Abbildung großer Proben ermöglicht. Mit seinen fortschrittlichen bildgebenden Funktionen und hochgenauen Analysefunktionen ist es ein ideales Instrument für eine Vielzahl von bildgebenden Anwendungen. JEOL JWS-7515 verfügt über eine neue 15 Nanometer ultrarauscharme Leistungsdetektorausrüstung, die zuverlässige Bildergebnisse mit geringem Rauschen liefert. Dies hilft, das Auftreten von Verfärbungen auf SEM-Bildern zu reduzieren und ermöglicht eine schnellere Bildaufnahme. Es verfügt auch über eine 5-Achsen-Probenstufe für eine optimale Abbildung großer Proben, mit der Fähigkeit, die Probe während des Bildgebungsprozesses für ein Höchstmaß an Detail zu kippen und zu drehen. JWS 7515 umfasst auch automatisierte Erkennungs- und Fokussierungsfunktionen für präzise Scanergebnisse. Das benutzerfreundliche System Automated Sample Environment Control (SEM-CON) ermöglicht die einfache und schnelle Entwicklung präziser und reproduzierbarer Methoden. Es verfügt auch über eine verbesserte optische Einheit für erhöhte Probenstabilität und verbesserte Abbildungsempfindlichkeit. Darüber hinaus verfügt JWS-7515 auch über erweiterte Datenanalysefunktionen. Mit seiner speziellen Anwendungssoftware können Anwender elementare Zusammensetzung, Bildmorphologie und Korngröße aus den erfassten Daten analysieren. Es verfügt auch über eine Partikelanalysemaschine, die eine genaue Analyse einzelner Partikel bis in den Nanometermaßstab ermöglicht. Insgesamt bietet JEOL JWS 7515 eine vielseitige und zuverlässige Lösung für bildgebende Anforderungen. Mit seinem fortschrittlichen Detektorwerkzeug, automatisierten Fähigkeiten für Genauigkeit und Reproduzierbarkeit und robusten Datenanalysefunktionen ist es ein ideales Instrument, um hochrangige Bildgebung und präzise Analyse für eine Vielzahl von Prozessen zu ermöglichen.